发明公开
- 专利标题: 一种脉冲波形测试电路
- 专利标题(英): Pulse waveform testing circuit
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申请号: CN201610033983.8申请日: 2016-01-19
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公开(公告)号: CN105675984A公开(公告)日: 2016-06-15
- 发明人: 郑云龙 , 林敏
- 申请人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 申请人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 余明伟
- 主分类号: G01R23/16
- IPC分类号: G01R23/16
摘要:
本发明提供一种脉冲波形测试电路,包括:用于收集单粒子轰击产生单粒子瞬态脉冲的脉冲收集模块;与所述脉冲收集模块相连,用于检测所述单粒子瞬态脉冲在不同电压值时的脉冲宽度,并产生多个相应的脉冲信号的脉冲宽度检测模块;与所述脉冲宽度检测模块相连,用于将不同电压值时检测到的脉冲宽度转化为数字信号的脉冲捕捉模块。本发明的脉冲波形测试电路测量出了单粒子效应的真实波形,可以以此建立更精准的单粒子效应瞬态电流脉冲模型,对抗辐射电路的加固设计具有重要参考意义。
公开/授权文献
- CN105675984B 一种脉冲波形测试电路 公开/授权日:2019-03-29