发明公开
CN105373444A 一种8位宽外部存储器控制器EDAC校验码的生成方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种8位宽外部存储器控制器EDAC校验码的生成方法
- 专利标题(英): EDAC (Error Detection And Correction) check code generation method of 8-bit-width external memory controller
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申请号: CN201510828933.4申请日: 2015-11-24
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公开(公告)号: CN105373444A公开(公告)日: 2016-03-02
- 发明人: 王兴凤 , 彭和平 , 于立新 , 庄伟 , 苏天红
- 申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
- 申请人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号
- 专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 臧春喜
- 主分类号: G06F11/10
- IPC分类号: G06F11/10 ; G06F11/36
摘要:
一种8位宽外部存储器控制器EDAC校验码的生成方法,该方法首先生成对齐的可执行程序dat文件,根据dat文件和地址位宽计算存储器的最大地址,然后计算校验码的行数,当数据位与校验码的总容量小于等于存储器的容量时,开始计算校验码,并将原来dat文件中的数据和新生成的校验码写到输出文件中,其中原来的数据位从文件头开始顺序排放,校验码从文件尾开始倒序排放,中间部分补0。利用本发明方法,实现了存储器中数据位对应的校验码倒序存储,处理器在读取校验码时直接将所有地址线上的数值都置为1,从存储器的最末端倒序读取校验码,简单方便,且能够节省管脚数,减少内部逻辑单元,提高处理器性能。
公开/授权文献
- CN105373444B 一种8位宽外部存储器控制器EDAC校验码的生成方法 公开/授权日:2018-07-06