• Patent Title: 用于确定通过待检查的对象引起的X射线辐射的衰减的方法和装置
  • Patent Title (English): Method and device for determining x-ray radiation attenuation caused by object to be examined
  • Application No.: CN201380045976.4
    Application Date: 2013-07-18
  • Publication No.: CN104603606A
    Publication Date: 2015-05-06
  • Inventor: T.汉尼曼M.莱因万德
  • Applicant: 西门子公司
  • Applicant Address: 德国慕尼黑
  • Assignee: 西门子公司
  • Current Assignee: 西门子公司
  • Current Assignee Address: 德国慕尼黑
  • Agency: 北京市柳沈律师事务所
  • Agent 谢强
  • Priority: 102012217177.0 2012.09.24 DE; 102013200400.1 2013.01.14 DE
  • International Application: PCT/EP2013/065200 2013.07.18
  • International Announcement: WO2014/044430 DE 2014.03.27
  • Date entered country: 2015-03-03
  • Main IPC: G01N23/087
  • IPC: G01N23/087
用于确定通过待检查的对象引起的X射线辐射的衰减的方法和装置
Abstract:
本发明的内容是,除了强度之外附加地还引入X射线辐射的谱组成,用于确定由对象(7)引起的衰减。本发明的另一个方面是一种装置,特别是用于X射线或CT系统(1)的辐射监视器(M),其适合用于执行提到的按照本发明的过程。
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