Invention Publication
- Patent Title: 用于确定通过待检查的对象引起的X射线辐射的衰减的方法和装置
- Patent Title (English): Method and device for determining x-ray radiation attenuation caused by object to be examined
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Application No.: CN201380045976.4Application Date: 2013-07-18
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Publication No.: CN104603606APublication Date: 2015-05-06
- Inventor: T.汉尼曼 , M.莱因万德
- Applicant: 西门子公司
- Applicant Address: 德国慕尼黑
- Assignee: 西门子公司
- Current Assignee: 西门子公司
- Current Assignee Address: 德国慕尼黑
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 谢强
- Priority: 102012217177.0 2012.09.24 DE; 102013200400.1 2013.01.14 DE
- International Application: PCT/EP2013/065200 2013.07.18
- International Announcement: WO2014/044430 DE 2014.03.27
- Date entered country: 2015-03-03
- Main IPC: G01N23/087
- IPC: G01N23/087

Abstract:
本发明的内容是,除了强度之外附加地还引入X射线辐射的谱组成,用于确定由对象(7)引起的衰减。本发明的另一个方面是一种装置,特别是用于X射线或CT系统(1)的辐射监视器(M),其适合用于执行提到的按照本发明的过程。
Public/Granted literature
- CN104603606B 用于确定通过待检查的对象引起的X射线辐射的衰减的方法和装置 Public/Granted day:2018-04-24
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