Invention Publication
- Patent Title: 判断双晶合金的方法
- Patent Title (English): Method for judging bicrystal alloy
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Application No.: CN201410796617.9Application Date: 2014-12-18
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Publication No.: CN104502559APublication Date: 2015-04-08
- Inventor: 罗海辉 , 彭宇 , 彭鑫
- Applicant: 株洲硬质合金集团有限公司
- Applicant Address: 湖南省株洲市荷塘区钻石路288号
- Assignee: 株洲硬质合金集团有限公司
- Current Assignee: 株洲硬质合金集团有限公司
- Current Assignee Address: 湖南省株洲市荷塘区钻石路288号
- Agency: 北京聿宏知识产权代理有限公司
- Agent 吴大建; 刘华联
- Main IPC: G01N33/20
- IPC: G01N33/20

Abstract:
本发明涉及一种判断双晶合金的方法,包括以下步骤:将待测合金试样制备金相面,分别测量金相面内的多个晶粒的横截面积S;将所测得的多个横截面积S按照晶粒序号n的升序而从小到大排序形成横截面积序列Sn;计算晶粒序号之间相差为间隔常数k的两个横截面积之间的差值ΔS,间隔常数k为正整数;将所得到的多个差值ΔS按照所述晶粒序号n的升序排列成差值序列ΔSn;获得差值序列ΔSn中的数值跳变区域,数值跳变区域的开始值对应的晶粒序号为特征晶粒序号N;当晶粒序号小于特征晶粒序号N的晶粒的数量与晶粒序号大于或等于特征晶粒序号N的晶粒的数量之比为1:9到9:1,待测合金试样为双晶合金。
Public/Granted literature
- CN104502559B 判断双晶合金的方法 Public/Granted day:2016-09-28
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