发明授权
- 专利标题: 鳍式场效应晶体管的形成方法
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申请号: CN201310093717.0申请日: 2013-03-21
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公开(公告)号: CN104064453B公开(公告)日: 2017-05-17
- 发明人: 三重野文健
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 骆苏华
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28 ; H01L21/336
摘要:
一种鳍式场效应晶体管的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有凸起的鳍部,位于所述鳍部上的栅极,所述栅极覆盖部分所述鳍部的顶部和侧壁;形成覆盖所述鳍部和所述栅极的侧墙材料层;对覆盖所述鳍部的侧墙材料层进行离子注入,形成改质侧墙材料层,所述改质侧墙材料层的刻蚀速率大于所述侧墙材料层的刻蚀速率;去除覆盖所述鳍部的改质侧墙材料层和位于所述栅极顶表面的侧墙材料层,形成位于所述栅极两侧的侧墙。本发明的鳍式场效应晶体管的形成方法在形成侧墙时,不会在鳍部的底部两侧残余侧墙材料,有利于提高晶体管性能。
公开/授权文献
- CN104064453A 鳍式场效应晶体管的形成方法 公开/授权日:2014-09-24
IPC分类: