Invention Publication

  • Patent Title: 一种体硅MOSFET结构
  • Patent Title (English): Bulk-silicon MOSFET structure
  • Application No.: CN201310454462.6
    Application Date: 2013-09-29
  • Publication No.: CN103500760A
    Publication Date: 2014-01-08
  • Inventor: 王颖贺晓雯曹菲邵雷
  • Applicant: 哈尔滨工程大学
  • Applicant Address: 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
  • Assignee: 哈尔滨工程大学
  • Current Assignee: 哈尔滨工程大学
  • Current Assignee Address: 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
  • Main IPC: H01L29/78
  • IPC: H01L29/78 H01L29/06
一种体硅MOSFET结构
Abstract:
本发明公开了一种体硅MOSFET结构。该结构包括:p+层(2)和n-层(3);其中,所述p+层(2)和所述n-层(3)直接接触,n-层使用宽禁带的6H-SiC材料。该结构提高了体硅结构的抗辐照能力。相对于SOI技术而言,该结构改善了自加热效应,消除了总剂量效应,降低了成本。
Public/Granted literature
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L29/00 专门适用于整流、放大、振荡或切换,并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒,例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器;半导体本体或其电极的零部件(H01L31/00至H01L47/00,H01L51/05优先;除半导体或其电极之外的零部件入H01L23/00;由在一个共用衬底内或其上形成的多个固态组件组成的器件入H01L27/00)
H01L29/66 .按半导体器件的类型区分的
H01L29/68 ..只能通过对一个不通有待整流、放大或切换的电流的电极供给电流或施加电位方可进行控制的(H01L29/96优先)
H01L29/76 ...单极器件
H01L29/772 ....场效应晶体管
H01L29/78 .....由绝缘栅产生场效应的
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