发明授权
摘要：
本发明提供一种光谱的测量方法，包括以下步骤：步骤S11，校准光谱测量系统；步骤S12，测量待测样品的透过率 ，计算待测样品的消光光谱；步骤S13，将待测样品承载于参考样品池及样品池中进行测量；步骤S14，将所述参考样品池及样品池中的待测样品换成标准样品，标定第二反射镜的反射率、第三反射镜的反射率、待测样品与光电探测及处理单元之间的距离r及衰减片的透过率，计算得到待测样品90°附近的散射光谱。
公开/授权文献
- CN103499393A 光谱的测量方法 公开/授权日：2014-01-08
