发明公开
- 专利标题: 光谱的测量方法
- 专利标题(英): Spectrum measuring method
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申请号: CN201310401484.6申请日: 2013-09-06
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公开(公告)号: CN103499393A公开(公告)日: 2014-01-08
- 发明人: 徐宁汉 , 白本锋 , 谭峭峰 , 金国藩
- 申请人: 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区北京100084-82信箱
- 专利权人: 清华大学
- 当前专利权人: 清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区北京100084-82信箱
- 代理机构: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司
- 代理商 哈达
- 主分类号: G01J3/44
- IPC分类号: G01J3/44 ; G01N21/31
摘要:
本发明提供一种光谱的测量方法,包括以下步骤:步骤S11,校准光谱测量系统;步骤S12,测量待测样品的透过率,计算待测样品的消光光谱;步骤S13,将待测样品承载于参考样品池及样品池中进行测量;步骤S14,将所述参考样品池及样品池中的待测样品换成标准样品,标定第二反射镜的反射率、第三反射镜的反射率、待测样品与光电探测及处理单元之间的距离r及衰减片的透过率,计算得到待测样品90°附近的散射光谱。
公开/授权文献
- CN103499393B 光谱的测量方法 公开/授权日:2015-10-21