Invention Grant
- Patent Title: 一种可直接用于XRD检测相成分的试样的制备方法
- Patent Title (English): Preparation method for specimen capable of being directly used for X-ray diffraction (XRD) detecting phase compositions
-
Application No.: CN201210458551.3Application Date: 2012-11-14
-
Publication No.: CN102980788BPublication Date: 2014-11-19
- Inventor: 谢海唯 , 吴冲浒 , 谢颖 , 项忠楠 , 郑爱钦 , 肖满斗 , 聂洪波 , 冯炎建
- Applicant: 厦门钨业股份有限公司
- Applicant Address: 福建省厦门市湖里区安岭路1005号
- Assignee: 厦门钨业股份有限公司
- Current Assignee: 厦门钨业股份有限公司
- Current Assignee Address: 福建省厦门市湖里区安岭路1005号
- Agency: 厦门市首创君合专利事务所有限公司
- Agent 连耀忠
- Main IPC: G01N1/28
- IPC: G01N1/28
Abstract:
本发明公开了一种可直接用于XRD检测相成分的试样的制备方法，是采用了V形槽块的制作，数控电火花线切割机的切割以及拉伸试验机的拉断。这种利用压制和烧结工序来制得样块，利用数控电火花线切割工序来制作切割缝，利用拉伸方式来对样块进行拉断处理，并使样块沿着V形槽和切割缝被拉断成二块，从而得到拉断面。这三种技术的结合，得到了未受应力影响、相成分未发生改变的试样，直接可用于XRD扫描。并具有测量数据准确、操作简单、方便的特点。
Public/Granted literature
- CN102980788A 一种可直接用于XRD检测相成分的试样的制备方法 Public/Granted day:2013-03-20
Information query
