发明公开
CN102707030A 一种测定晶体取向分布的多试样组合法
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种测定晶体取向分布的多试样组合法
- 专利标题(英): Multi-sample combination method for detecting crystal orientation distribution
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申请号: CN201210204768.1申请日: 2012-06-20
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公开(公告)号: CN102707030A公开(公告)日: 2012-10-03
- 发明人: 李长一 , 黎世德 , 杨佳欣
- 申请人: 武汉钢铁(集团)公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市武昌区友谊大道999号
- 专利权人: 武汉钢铁(集团)公司
- 当前专利权人: 武汉钢铁(集团)公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武昌区友谊大道999号
- 代理机构: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- 代理商 钟锋
- 主分类号: G01N33/20
- IPC分类号: G01N33/20
摘要:
本发明提供一种测定晶体取向分布的多试样组合法,它包括以下步骤:1)选取钢板不同部位的多块试样;2)将上述试样加工成相同规格的多块长方形钢片,叠放于极图测量试样架中,并进行紧固、抛光、腐蚀,制成R.D截面试样;3)测定R.D截面试样的{110}、{200}、{211}三张不完整极图;4)利用常规取向分布函数软件计算ODF图,获取针对Bung坐标系的φ、φ1、及φ2值或Roe坐标系的θ、φ、及ψ值;5)利用Bung坐标系的公式(a)、(b)或Roe坐标系的公式(c)、(d)计算织构。该多试样组合法能够反映试样整个厚度的晶体取向情况,代表性强;对于已具备常规ODF分析软件的试验室,无需另外专门编制或购买专门针对计算几十块样品所组成的横断面的ODF软件,使用便捷;对于无ODF分析软件的试验室,仅需编制或购买常规ODF软件,成本较低。