- 专利标题: 抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构D触发器
- 专利标题(英): Single event upset resistant settable and resettable scan structure D flip-flop
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申请号: CN201110323896.3申请日: 2011-10-21
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公开(公告)号: CN102394599B公开(公告)日: 2013-12-11
- 发明人: 刘宗林 , 池雅庆 , 李鹏 , 梁斌 , 刘必慰 , 胡春媚 , 陈建军 , 何益百 , 杜延康 , 秦军瑞
- 申请人: 中国人民解放军国防科学技术大学
- 申请人地址: 湖南省长沙市开福区德雅路109号
- 专利权人: 中国人民解放军国防科学技术大学
- 当前专利权人: 中国人民解放军国防科学技术大学
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市开福区德雅路109号
- 代理机构: 国防科技大学专利服务中心
- 代理商 郭敏
- 主分类号: H03K3/013
- IPC分类号: H03K3/013 ; H03K19/003 ; H03K3/02
摘要:
本发明公开了一种抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构D触发器,目的是提高抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构D触发器的抗单粒子翻转能力。它由时钟电路、扫描控制缓冲电路、复位缓冲电路、主锁存器、从锁存器和输出缓冲电路组成;主锁存器由二十个PMOS管和二十个NMOS管组成,从锁存器由十个PMOS管和十个NMOS管组成,主锁存器和从锁存器均进行了双模冗余加固,且主锁存器和从锁存器中C2MOS电路结构均进行了改进,即分离互为冗余的C2MOS电路中的上拉电路和下拉电路。本发明的抗单粒子翻转能力强,适合用于抗单粒子翻转加固集成电路的标准单元库,应用于航空、航天等领域。
公开/授权文献
- CN102394599A 抗单粒子翻转可置位和复位的扫描结构D触发器 公开/授权日:2012-03-28