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发明公开
CN102331396A 微粒分析装置和方法 有权

微粒分析装置和方法
摘要：
本发明公开了微粒分析装置和方法，该微粒分析装置包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从多模光纤的第二端出射的光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自光源的光而从微粒产生的光。
摘要（英）：

A minute particle analyzing device includes: a light source; a first condenser lens for condensing light from the light source to a first end of a multimode optical fiber; a second condenser lens for condensing the light emerging from a second end of the multimode optical fiber to a minute particle; and a detector for detecting light generated from the minute particle by the application of the light from the light source.

公开/授权文献
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