发明授权
- 专利标题： 微粒分析装置和方法
- 专利标题（英）： Minute particle analyzing device and method
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申请号： CN201110162675.2申请日： 2011-06-16
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公开(公告)号： CN102331396B公开(公告)日： 2015-04-29
- 发明人: 浩司高崎 , 濑尾胜弘 , 外石满 , 晋司山田 , 福本敦 , 加里·杜拉克
- 申请人： 索尼公司 , iCyt米申技术公司
- 申请人地址： 日本东京
- 专利权人： 索尼公司,iCyt米申技术公司
- 当前专利权人： 索尼公司,iCyt米申技术公司
- 当前专利权人地址： 日本东京
- 代理机构： 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 余刚; 吴孟秋
- 优先权： 12/829,070 2010.07.01 US
- 主分类号： G01N15/14
- IPC分类号： G01N15/14
摘要：
本发明公开了微粒分析装置和方法，该微粒分析装置包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从多模光纤的第二端出射的光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自光源的光而从微粒产生的光。
公开/授权文献
- CN102331396A 微粒分析装置和方法 公开/授权日：2012-01-25
