- 专利标题: 对包含多晶硅以及氧化硅和氮化硅中的至少一种的基片进行抛光的方法
- 专利标题(英): Method of polishing a substrate comprising polysilicon and at least one of silicon oxide and silicon nitride
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申请号: CN201110072107.3申请日: 2011-03-16
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公开(公告)号: CN102201337A公开(公告)日: 2011-09-28
- 发明人: 郭毅 , 刘振东 , K-A·K·雷迪 , G·张
- 申请人: 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司
- 申请人地址: 美国特拉华州
- 专利权人: 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司
- 当前专利权人: 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国特拉华州
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 沙永生
- 优先权: 12/724,721 2010.03.16 US
- 主分类号: H01L21/3105
- IPC分类号: H01L21/3105 ; B24B37/04 ; H01L21/321 ; C09G1/02
摘要:
本发明提供了一种用来对基片进行化学机械抛光的方法,该方法包括:提供基片,其中,所述基片包含多晶硅以及氧化硅和氮化硅中的至少一种;提供一种化学机械抛光组合物,其包含以下组分作为初始组分:水;磨料;无环有机磺酸化合物,其中,所述无环有机磺酸化合物包含具有6-30个碳原子的无环疏水性部分以及包含10-300个碳原子的非离子型无环亲水性部分;提供具有抛光表面的化学机械抛光垫;使得抛光表面相对于基片运动;将所述化学机械抛光组合物分配在所述抛光表面上;磨去所述基片的至少一部分,从而对所述基片进行抛光;其中,从基片上除去至少一部分多晶硅;从基片上除去至少一部分的氧化硅和氮化硅中的至少一种。
公开/授权文献
- CN102201337B 对包含多晶硅以及氧化硅和氮化硅中的至少一种的基片进行抛光的方法 公开/授权日:2014-03-12
IPC分类: