厚多晶电阻的饱和掺杂工艺
摘要:
本发明涉及一种厚多晶电阻的饱和掺杂工艺,其包括如下步骤:a、提供衬底,衬底上设置有相应氧化物结构;b、在上述衬底的氧化物结构上淀积多晶电阻材料,淀积多晶电阻材料时,根据所需多晶的厚度,将所述上述多晶电阻材料均分多次淀积;c、在上述衬底上形成所需厚度的多晶电阻后,在多晶电阻内进行含磷气体掺杂;d、去除上述多晶电阻上形成的PSG。本发明根据厚多晶电阻的厚度要求,采用多次均匀淀积的方式得到所需厚度的厚多晶电阻,可以减轻炉内副产物的堆积和对泵等硬件的损耗,提高生产稳定性,所有步骤都参照常规工艺,操作简单;多晶掺杂采用饱和掺杂使杂质在晶粒间和晶粒间隙同时扩散,并且分布均匀,片内片间及稳定性都达到生产要求。
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