发明公开
- 专利标题: 厚多晶电阻的饱和掺杂工艺
- 专利标题(英): Saturated doping process of thick polycrystalline resistor
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申请号: CN201010547290.3申请日: 2010-11-16
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公开(公告)号: CN102097299A公开(公告)日: 2011-06-15
- 发明人: 高向东 , 唐剑平 , 张明 , 吴晓鸫
- 申请人: 无锡中微晶园电子有限公司
- 申请人地址: 江苏省无锡市新区长江路21号信息产业园A座203室
- 专利权人: 无锡中微晶园电子有限公司
- 当前专利权人: 无锡中微晶园电子有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省无锡市新区长江路21号信息产业园A座203室
- 代理机构: 无锡市大为专利商标事务所
- 代理商 曹祖良
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; H01L21/3205 ; H01L21/223
摘要:
本发明涉及一种厚多晶电阻的饱和掺杂工艺,其包括如下步骤:a、提供衬底,衬底上设置有相应氧化物结构;b、在上述衬底的氧化物结构上淀积多晶电阻材料,淀积多晶电阻材料时,根据所需多晶的厚度,将所述上述多晶电阻材料均分多次淀积;c、在上述衬底上形成所需厚度的多晶电阻后,在多晶电阻内进行含磷气体掺杂;d、去除上述多晶电阻上形成的PSG。本发明根据厚多晶电阻的厚度要求,采用多次均匀淀积的方式得到所需厚度的厚多晶电阻,可以减轻炉内副产物的堆积和对泵等硬件的损耗,提高生产稳定性,所有步骤都参照常规工艺,操作简单;多晶掺杂采用饱和掺杂使杂质在晶粒间和晶粒间隙同时扩散,并且分布均匀,片内片间及稳定性都达到生产要求。
公开/授权文献
- CN102097299B 厚多晶电阻的饱和掺杂工艺 公开/授权日:2012-11-07
IPC分类: