• 专利标题: 一种扫描成像光谱仪光路结构
  • 专利标题(英): Light path structure of scanning and imaging spectrometer
  • 申请号: CN201010271621.5
    申请日: 2010-09-03
  • 公开(公告)号: CN101975610B
    公开(公告)日: 2012-02-15
  • 发明人: 唐义吴雁刘健鹏倪国强张止戈
  • 申请人: 北京理工大学
  • 申请人地址: 北京市海淀区中关村南大街5号
  • 专利权人: 北京理工大学
  • 当前专利权人: 北京理工大学
  • 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村南大街5号
  • 主分类号: G01J3/28
  • IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02
一种扫描成像光谱仪光路结构
摘要:
一种扫描成像光谱仪光路结构,包括扫描反射镜(1),对来自目标的入射光线进行反射;光阑(2),选择一定视场角内的光进入光谱仪;望远物镜(3),将通过光阑的光聚焦至狭缝(4);准直物镜(5),将通过狭缝的光反射到光栅(6)上;光栅(6),进行分光;聚焦物镜(7),将分光后的光聚焦至探测器(8)的光敏面处进行分光谱成像。经过扫描反射镜(1)在光谱维的扫描可以获得二维空间的光谱数据。光谱仪采用全反射式光学元件,所有反射元件均镀高反射率膜。该结构特点在于望远成像光路与分光成像光路空间共享,在不增大系统体积的基础上,减小了光学元件之间的离轴角,极大的提高了光谱仪的光谱分辨力和成像分辨力。
公开/授权文献
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