Invention Publication
- Patent Title: 用于半导体器件的电网结构及其制造方法
- Patent Title (English): Structure of power grid for semiconductor devices and method of making the same
-
Application No.: CN201010206364.7Application Date: 2010-06-17
-
Publication No.: CN101930965APublication Date: 2010-12-29
- Inventor: 王平川 , 李伟健 , R·G·菲利皮
- Applicant: 国际商业机器公司
- Applicant Address: 美国纽约
- Assignee: 国际商业机器公司
- Current Assignee: 国际商业机器公司
- Current Assignee Address: 美国纽约
- Agency: 北京市中咨律师事务所
- Agent 于静; 杨晓光
- Priority: 12/491,372 2009.06.25 US
- Main IPC: H01L23/522
- IPC: H01L23/522 ; H01L21/768

Abstract:
本发明涉及用于半导体器件的电网结构及其制造方法。本发明的一个实施例提供一种半导体结构,其包括:在电介质层内形成的第一导电材料的插塞;具有底部和侧壁的第二导电材料的过孔,其中所述底部和所述侧壁被导电衬里覆盖,并且所述底部被直接形成在所述插塞的顶部上且通过所述导电衬里而与所述过孔接触;以及第三导电材料的一个或多个导电路径,其通过在所述过孔的所述侧壁处的所述导电衬里而连接到所述过孔。还提供制造该半导体结构的方法。
Public/Granted literature
- CN101930965B 用于半导体器件的电网结构及其制造方法 Public/Granted day:2013-06-12
Information query
IPC分类: