发明授权
CN101806861B 一种密封电磁继电器电接触失效类别判定方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种密封电磁继电器电接触失效类别判定方法
- 专利标题(英): Method for judging category of failures caused by electrical contact in sealed electromagnetic relay
-
申请号: CN201010149035.3申请日: 2010-04-19
-
公开(公告)号: CN101806861B公开(公告)日: 2012-02-15
- 发明人: 任万滨 , 余琼 , 翟国富
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 主分类号: G01R31/327
- IPC分类号: G01R31/327 ; G06F19/00
摘要:
本发明提供一种密封电磁继电器电接触失效类别判定方法。方法步骤如下:首先对多只密封电磁继电器试验样品进行可靠性寿命试验,记录整个试验过程各试验样品接触电阻等特性参数与动作次数的关系;以接触电阻等六个特性参数构成数据矩阵Xn×6,采用主元分析方法对多维特性参数数据进行降维预处理,从降维后的数据中提取相应数学特征并按失效机理不同进行分类,采用距离判别方法计算新试验样本与各类训练样本的马氏距离,通过比较马氏距离大小确定失效类型;本发明无需开壳借助光学显微镜等仪器进行失效分析。可排除其他诱因导致的干扰因素,使真正的失效原因得以暴露定位。
公开/授权文献
- CN101806861A 一种密封电磁继电器电接触失效类别判定方法 公开/授权日:2010-08-18