发明公开

浅沟槽隔离成形工艺
摘要:
本发明揭示了一种浅沟槽隔离成形工艺,包括:有源区衬垫氧化及氮化硅沉积;介电抗反射膜沉积;有源区衬垫氧化层、介电抗反射膜以及有源区蚀刻,其中对于有源区的蚀刻为软蚀刻,以在有源区形成坡度;支撑件氧化、沉积及蚀刻;STI蚀刻;沟道内壁隔离层氧化及高密度等离子氧化沉积。采用本发明的技术方案,通过有源区的软蚀刻来形成坡度,使得在进行STI蚀刻成形时能容易地获得均匀的圆形顶角,避免了现有技术中复杂的STI蚀刻步骤以及多次地Liner Oxidation步骤,降低了成本,提高了生产效率。
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