发明公开
- 专利标题: 浅沟槽隔离成形工艺
- 专利标题(英): Shallow groove isolated forming process
-
申请号: CN200610147949.X申请日: 2006-12-25
-
公开(公告)号: CN101211816A公开(公告)日: 2008-07-02
- 发明人: 吴佳特 , 邬瑞彬
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 陆嘉
- 主分类号: H01L21/762
- IPC分类号: H01L21/762
摘要:
本发明揭示了一种浅沟槽隔离成形工艺,包括:有源区衬垫氧化及氮化硅沉积;介电抗反射膜沉积;有源区衬垫氧化层、介电抗反射膜以及有源区蚀刻,其中对于有源区的蚀刻为软蚀刻,以在有源区形成坡度;支撑件氧化、沉积及蚀刻;STI蚀刻;沟道内壁隔离层氧化及高密度等离子氧化沉积。采用本发明的技术方案,通过有源区的软蚀刻来形成坡度,使得在进行STI蚀刻成形时能容易地获得均匀的圆形顶角,避免了现有技术中复杂的STI蚀刻步骤以及多次地Liner Oxidation步骤,降低了成本,提高了生产效率。
公开/授权文献
- CN100570849C 浅沟槽隔离成形工艺 公开/授权日:2009-12-16
IPC分类: