发明公开
CN101174558A 立方氮化硼薄膜的p型掺杂方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 立方氮化硼薄膜的p型掺杂方法
- 专利标题(英): P type doping method for cubic boron nitride thin film
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申请号: CN200710178682.5申请日: 2007-12-04
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公开(公告)号: CN101174558A公开(公告)日: 2008-05-07
- 发明人: 邓金祥 , 陈光华 , 何斌 , 张晓康 , 陈浩
- 申请人: 北京工业大学
- 申请人地址: 北京市朝阳区平乐园100号
- 专利权人: 北京工业大学
- 当前专利权人: 北京工业大学
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区平乐园100号
- 代理机构: 北京思海天达知识产权代理有限公司
- 代理商 刘萍
- 主分类号: H01L21/18
- IPC分类号: H01L21/18 ; H01L21/265 ; H01L21/24 ; H01L21/324 ; H01L21/268 ; C30B31/22
摘要:
立方氮化硼薄膜的p型掺杂方法属于宽带隙半导体薄膜掺杂领域。克服宽带隙超硬材料c-BN薄膜很难实现p型掺杂的困难,实现c-BN薄膜的有效p型掺杂。本发明步骤:(1)使用低压气相薄膜生长设备衬底上沉积一层本征c-BN薄膜,这层本征BN薄膜:薄膜厚度为200~800nm;立方相含量在40~95%;电导率在10-9~10-11Ω-1cm-1;(2)选用金属铍离子作为p型掺杂剂,离子注入铍的能量范围为80~200千电子伏特;离子注入铍的剂量范围为5×1015~1×1017ion/cm2。(3)慢速退火:慢速退火温度为600~900℃;恒温时间为40~60分钟。(4)将经过步骤(3)退火的薄膜再进行激光辐照二次杂质激活工艺:退火温度为1000~1050℃,退火时间为20~40秒钟。本发明使立方相含量在40%以上的c-BN薄膜的电导率增大近十万倍。
公开/授权文献
- CN100483626C 立方氮化硼薄膜的p型掺杂方法 公开/授权日:2009-04-29
IPC分类: