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1.发明申请METHOD AND SYSTEM FOR ITERATIVELY TESTING AND REPAIRING AN ARRAY OF MEMORY CELLS 有权用于重复测试和修复记忆细胞阵列的方法和系统公开(公告)号：US20130232384A1
公开(公告)日：2013-09-05
申请号：US13862738
申请日：2013-04-15
发明人： Reshef Bar Yoel , Yosef Solt , Michael Levi , Yosef Haviv
IPC分类号： G11B20/18
CPC分类号： G11B20/1883 , G11C29/24 , G11C29/44 , G11C29/4401 , G11C29/72
摘要： A memory system includes an array of memory cells and a repair module. Multiple memory cells in the array are redundant to other memory cells in the array. The repair module iteratively tests the array. During the iterative testing of the array, the repair module, during each test of the array, (i) identifies one or more defective memory cells in the array, if any, and (ii) in response to one or more defective memory cells being identified during the test, respectively replaces the one or more defective memory cells with one or more memory cells that are redundant to other memory cells in the array. The repair module performs the iterative testing of the array until (i) the repair module does not detect a defective memory cell or (ii) no memory cells of the memory cells that are redundant remain available for replacement of a defective memory cell.
摘要翻译： 存储器系统包括存储器单元阵列和修复模块。 阵列中的多个存储单元对阵列中的其他存储单元是冗余的。 修复模块迭代地测试数组。 在阵列的迭代测试期间，在阵列的每次测试期间，修复模块（i）识别阵列中的一个或多个有缺陷的存储器单元（如果有的话），以及（ii）响应于一个或多个有缺陷的存储器单元是 在测试期间识别的分别用阵列中的其他存储器单元冗余的一个或多个存储器单元替换一个或多个有缺陷的存储器单元。 修复模块执行阵列的迭代测试，直到（i）修复模块未检测到有缺陷的存储单元，或者（ii）不存在冗余的存储单元的存储单元可用于更换有缺陷的存储单元。
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2.发明授权Method and system for iteratively testing and repairing an array of memory cells 有权用于迭代测试和修复存储器单元阵列的方法和系统公开(公告)号：US08615688B2
公开(公告)日：2013-12-24
申请号：US13862738
申请日：2013-04-15
发明人： Reshef Bar Yoel , Yosef Solt , Michael Levi , Yosef Haviv
CPC分类号： G11B20/1883 , G11C29/24 , G11C29/44 , G11C29/4401 , G11C29/72
摘要： A memory system includes an array of memory cells and a repair module. Multiple memory cells in the array are redundant to other memory cells in the array. The repair module iteratively tests the array. During the iterative testing of the array, the repair module, during each test of the array, (i) identifies one or more defective memory cells in the array, if any, and (ii) in response to one or more defective memory cells being identified during the test, respectively replaces the one or more defective memory cells with one or more memory cells that are redundant to other memory cells in the array. The repair module performs the iterative testing of the array until (i) the repair module does not detect a defective memory cell or (ii) no memory cells of the memory cells that are redundant remain available for replacement of a defective memory cell.
摘要翻译： 存储器系统包括存储器单元阵列和修复模块。 阵列中的多个存储单元对阵列中的其他存储单元是冗余的。 修复模块迭代地测试数组。 在阵列的迭代测试期间，在阵列的每次测试期间，修复模块（i）识别阵列中的一个或多个有缺陷的存储器单元（如果有的话），以及（ii）响应于一个或多个有缺陷的存储器单元是 在测试期间识别的分别用阵列中的其他存储器单元冗余的一个或多个存储器单元替换一个或多个有缺陷的存储器单元。 修复模块执行阵列的迭代测试，直到（i）修复模块未检测到有缺陷的存储单元，或者（ii）不存在冗余的存储单元的存储单元可用于更换有缺陷的存储单元。
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