公开(公告)号：US20140068333A1

公开(公告)日：2014-03-06

申请号：US14059079

申请日：2013-10-21

Applicant: Marvell International Technology LTD

Inventor： Richard D. Taylor ,  Mark D. Montierth ,  Melvin D. Bodily ,  Gary Zimmerman ,  John D. Marshall

IPC: G06F11/27

CPC classification number: G06F11/27 ,  G01R31/31905 ,  G01R31/31908 ,  G11B20/18 ,  G11B20/1816

Abstract: A test method for an ASIC uses an embedded processor in the ASIC to execute test routines from an embedded memory or an external memory. During ASIC production, the test routines can comprehensively test of the blocks of the ASIC without a complicated test pattern from test equipment. The test routines can also perform power-up tests in systems or end products containing the ASIC. Test selection, activation, and result output can be implemented using a few terminals of the ASIC.

Abstract translation: ASIC的测试方法使用ASIC中的嵌入式处理器来执行来自嵌入式存储器或外部存储器的测试程序。 在ASIC生产期间，测试程序可以对ASIC的块进行全面测试，而不需要测试设备的复杂测试模式。 测试例程还可以在包含ASIC的系统或最终产品中执行上电测试。 可以使用ASIC的几个端子来实现测试选择，激活和结果输出。

公开(公告)号：US20130080835A1

公开(公告)日：2013-03-28

申请号：US13683760

申请日：2012-11-21

Applicant: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD

Inventor： Richard D. Taylor ,  Mark D. Montierth ,  Melvin D. Bodily ,  Gary Zimmerman ,  John D. Marshall

IPC: G06F11/28

CPC classification number: G06F11/27 ,  G01R31/31905 ,  G01R31/31908 ,  G11B20/18 ,  G11B20/1816

Abstract: A test method for an ASIC uses an embedded processor in the ASIC to execute test routines from an embedded memory or an external memory. During ASIC production, the test routines can comprehensively test of the blocks of the ASIC without a complicated test pattern from test equipment. The test routines can also perform power-up tests in systems or end products containing the ASIC. Test selection, activation, and result output can be implement using a few terminals of the ASIC.

Abstract translation: ASIC的测试方法使用ASIC中的嵌入式处理器来执行来自嵌入式存储器或外部存储器的测试程序。 在ASIC生产期间，测试程序可以对ASIC的块进行全面测试，而不需要测试设备的复杂测试模式。 测试例程还可以在包含ASIC的系统或最终产品中执行上电测试。 可以使用ASIC的几个端子实现测试选择，激活和结果输出。