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1.

发明申请
APPARATUS AND METHOD TO MEASURE DUROMETER HARDNESS AT, ABOVE, AND BELOW ROOM TEMPERATURE 审中-公开
标题翻译：测量上，下和下室温度下硬度的装置和方法

公开(公告)号：US20150323437A1

公开(公告)日：2015-11-12

申请号：US14271856

申请日：2014-05-07

申请人： Antonio Paesano

发明人： Antonio Paesano

IPC分类号： G01N3/42 , G01N3/54

CPC分类号： G01N3/42 , G01N3/54 , G01N2203/0222 , G01N2203/0226 , G01N2203/0228

摘要： An apparatus and its method of use to measure indentation hardness of rubber materials at, above or below room temperature according to the standard test method ASTM D2240.

摘要翻译： 根据ASTM D2240标准测试方法，测量在室温以上或低于室温的橡胶材料的压痕硬度的装置及其方法。

2.

发明授权
Clamps and methods of using clamps to measure angular positions of components 有权
标题翻译：使用夹具测量部件角度位置的夹具和方法

公开(公告)号：US08769839B1

公开(公告)日：2014-07-08

申请号：US13370052

申请日：2012-02-09

申请人： Antonio Paesano , Francis Kendra , Frank J. Gill

发明人： Antonio Paesano , Francis Kendra , Frank J. Gill

IPC分类号： G01C9/06

CPC分类号： G01C9/005 , B64C27/008

摘要： Methods and apparatus to measure an angular position of craft components are disclosed. An example apparatus includes an opening to receive a component along a first plane; and a first magnetic coupler positioned along a first exterior side of the apparatus to removably couple an inclinometer to the apparatus at a first angle relative to the first plane.

摘要翻译： 公开了测量工艺部件的角位置的方法和装置。示例性装置包括：沿着第一平面接收部件的开口; 以及沿着装置的第一外侧定位的第一磁耦合器，以相对于第一平面以第一角度将倾斜计可拆卸地耦合到装置。