公开(公告)号：US20040021078A1

公开(公告)日：2004-02-05

申请号：US10384374

申请日：2003-03-06

Applicant: Advanced Photometrics, Inc.

Inventor： Thomas W. Hagler

IPC: G01N021/35

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/06 ,  G01J3/1804 ,  G01J3/2846 ,  G01J3/42 ,  G01J2001/4242 ,  G01J2003/1217

Abstract: Method and apparatus for analyzing radiation using analyzers and encoders employing the spatial modulation of radiation dispersed by wavelength or imaged along a line.

Abstract translation: 使用分析器和编码器分析辐射的方法和装置，其采用通过波长分散的辐射的空间调制或沿着线成像。