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公开(公告)号：US08477905B2
公开(公告)日：2013-07-02
申请号：US12727999
申请日：2010-03-19
IPC分类号： G01N23/20
CPC分类号： G01N29/043 , G01N3/32 , G01N23/20 , G01N29/30 , G01N2203/0075 , G01N2291/0289
摘要： A system and method for non-destructively determining the grain orientation of a crystalline material using x-ray diffraction techniques to non-destructively analyze material and, more particularly, to a system and method for determining the grain orientation of an underlying crystalline material covered by an overlying polycrystalline material. Further, the system and method relate to the use of x-ray diffraction to non-destructively characterize parts and components to determine whether to accept or reject those components or parts for use in application.
摘要翻译： 一种用于使用X射线衍射技术非破坏性地确定结晶材料的晶粒取向以非破坏性地分析材料的系统和方法，更具体地说，涉及一种用于确定覆盖的基础晶体材料的晶粒取向的系统和方法 上覆多晶材料。 此外，该系统和方法涉及使用x射线衍射以非破坏性的方式表征零件和部件，以确定是否接受或拒绝用于应用的那些部件或部件。
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公开(公告)号：US20100239068A1
公开(公告)日：2010-09-23
申请号：US12727999
申请日：2010-03-19
CPC分类号： G01N29/043 , G01N3/32 , G01N23/20 , G01N29/30 , G01N2203/0075 , G01N2291/0289
摘要： A system and method for non-destructively determining the grain orientation of a crystalline material using x-ray diffraction techniques to non-destructively analyze material and, more particularly, to a system and method for determining the grain orientation of an underlying crystalline material covered by an overlying polycrystalline material. Further, the system and method relate to the use of x-ray diffraction to non-destructively characterize parts and components to determine whether to accept or reject those components or parts for use in application.
摘要翻译： 一种用于使用X射线衍射技术非破坏性地确定结晶材料的晶粒取向以非破坏性地分析材料的系统和方法，更具体地说，涉及一种用于确定覆盖的基础晶体材料的晶粒取向的系统和方法 上覆多晶材料。 此外，该系统和方法涉及使用x射线衍射以非破坏性的方式表征零件和部件，以确定是否接受或拒绝用于应用的那些部件或部件。
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