公开(公告)号：US07392147B2

公开(公告)日：2008-06-24

申请号：US11309707

申请日：2006-09-15

申请人： Chien-Hung Lo ,  Tao-Gen Chen ,  Xiao Su ,  Min-Fu Deng

发明人： Chien-Hung Lo ,  Tao-Gen Chen ,  Xiao Su ,  Min-Fu Deng

IPC分类号： G01M19/00

CPC分类号： G01R31/31715

摘要： A Universal Serial Bus (USB) port tester for testing a USB port of an electronic device includes an interface unit, a current-testing unit, and a voltage-testing unit. The interface unit is used for electrically connecting with the USB port of the electronic device and a USB device. The current-testing unit is connected to the interface unit for testing quality of the USB port of the electronic device in a standard current range. The voltage-testing unit is connected to the interface unit for testing quality of the USB port of the electronic device in a standard voltage range.

摘要翻译： 用于测试电子设备的USB端口的通用串行总线（USB）端口测试器包括接口单元，电流测试单元和电压测试单元。 接口单元用于与电子设备的USB端口和USB设备电连接。 电流测试单元连接到接口单元，用于在标准电流范围内测试电子设备的USB端口的质量。 电压测试单元连接到接口单元，用于在标准电压范围内测试电子设备的USB端口的质量。

公开(公告)号：US20070136025A1

公开(公告)日：2007-06-14

申请号：US11309707

申请日：2006-09-15

申请人： CHIEN-HUNG LO ,  Tao-Gen Chen ,  Xiao Su ,  Min-Fu Deng

发明人： CHIEN-HUNG LO ,  Tao-Gen Chen ,  Xiao Su ,  Min-Fu Deng

IPC分类号： G01M19/00

CPC分类号： G01R31/31715

摘要： A Universal Serial Bus (USB) port tester for testing a USB port of an electronic device includes an interface unit, a current-testing unit, and a voltage-testing unit. The interface unit is used for electrically connecting with the USB port of the electronic device and a USB device. The current-testing unit is connected to the interface unit for testing quality of the USB port of the electronic device in a standard current range. The voltage-testing unit is connected to the interface unit for testing quality of the USB port of the electronic device in a standard voltage range.

摘要翻译： 用于测试电子设备的USB端口的通用串行总线（USB）端口测试器包括接口单元，电流测试单元和电压测试单元。 接口单元用于与电子设备的USB端口和USB设备电连接。 电流测试单元连接到接口单元，用于在标准电流范围内测试电子设备的USB端口的质量。 电压测试单元连接到接口单元，用于在标准电压范围内测试电子设备的USB端口的质量。

公开(公告)号：US20100017658A1

公开(公告)日：2010-01-21

申请号：US12329617

申请日：2008-12-07

申请人： SU-KUANG YANG ,  CHIEN-HUNG LO ,  MIN-FU DENG ,  ZHENG-QUAN PENG ,  XIANG CAO

发明人： SU-KUANG YANG ,  CHIEN-HUNG LO ,  MIN-FU DENG ,  ZHENG-QUAN PENG ,  XIANG CAO

IPC分类号： G06F11/00 ,  G06G7/62

CPC分类号： G06F11/261

摘要： A test system for testing various functions of electronic devices includes a master device and a simulation control device. The master device is connected to an input device and the electronic devices through the simulation control device. The master device records input signals of the input device and generate simulation signals according to the input signals. The simulation control device simulates the input signals of the input device according to the simulation signals to test the electronic devices.

摘要翻译： 用于测试电子设备的各种功能的测试系统包括主设备和仿真控制设备。 主设备通过仿真控制设备连接到输入设备和电子设备。 主设备记录输入设备的输入信号，并根据输入信号生成模拟信号。 模拟控制装置根据模拟信号模拟输入装置的输入信号，以测试电子装置。

公开(公告)号：US07992046B2

公开(公告)日：2011-08-02

申请号：US12329617

申请日：2008-12-07

申请人： Su-Kuang Yang ,  Chien-Hung Lo ,  Min-Fu Deng ,  Zheng-Quan Peng ,  Xiang Cao

发明人： Su-Kuang Yang ,  Chien-Hung Lo ,  Min-Fu Deng ,  Zheng-Quan Peng ,  Xiang Cao

IPC分类号： G06F11/00 ,  G06F11/26

CPC分类号： G06F11/261

摘要： A test system for testing various functions of electronic devices includes a master device and a simulation control device. The master device is connected to an input device and the electronic devices through the simulation control device. The master device records input signals of the input device and generate simulation signals according to the input signals. The simulation control device simulates the input signals of the input device according to the simulation signals to test the electronic devices.

摘要翻译： 用于测试电子设备的各种功能的测试系统包括主设备和仿真控制设备。 主设备通过仿真控制设备连接到输入设备和电子设备。 主设备记录输入设备的输入信号，并根据输入信号生成模拟信号。 模拟控制装置根据模拟信号模拟输入装置的输入信号，以测试电子装置。