公开(公告)号：US09484556B2

公开(公告)日：2016-11-01

申请号：US14242665

申请日：2014-04-01

Applicant: Samsung Display Co., Ltd.

Inventor： Zail Lhee ,  Huiyeon Choe ,  Hyori Jeon ,  Younggil Park

IPC: H01B13/00 ,  C03C25/68 ,  H01J37/305 ,  H01L51/56 ,  C23F1/08 ,  B05C11/00 ,  H01L27/32

CPC classification number: H01L51/56 ,  H01L27/3276 ,  H01L2251/568

Abstract: A method of repairing an organic light-emitting display apparatus, the organic light-emitting display apparatus including a substrate, an organic light-emitting device formed on the substrate, a thin film transistor (TFT) formed on the substrate, an organic insulating layer formed on the TFT, and a conductive pattern formed on the organic insulating layer, the conductive pattern including a shorted part between two conductive elements in the conductive pattern, the method including: removing the short by using a focused ion beam (FIB).

Abstract translation: 一种修复有机发光显示装置的方法，包括基板的有机发光显示装置，形成在基板上的有机发光装置，形成在基板上的薄膜晶体管（TFT），有机绝缘层 形成在TFT上的导电图案和形成在有机绝缘层上的导电图案，导电图案包括在导电图案中的两个导电元件之间的短路部分，该方法包括：通过使用聚焦离子束（FIB）去除短路。