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公开(公告)号：CN118762739A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411216279.7
申请日：2024-09-02
申请人： 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
摘要： 本发明适用于固态硬盘生产测试技术领域，提供了一种固态硬盘智能化测试方法及系统，通过对目标固态硬盘进行断电故障注入测试，并分析目标固态硬盘在测试过程中，是否出现异常数据丢失情况。在对测试固态硬盘进行断电故障注入测试的过程中，能够智能分析被测试固态硬盘与标准固态硬盘的电气参数表现，以判断数据丢失是否由于特定物理储存部件的电力与固态硬盘不匹配所致。一旦确认不匹配，还能提供针对被测固态硬盘出现异常的具体物理储存部件的适配方案，以优化其性能并提升稳定性。这一方法不仅仅局限于发现问题，而是通过深入分析和智能识别，能够准确定位导致数据丢失的根本原因。
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公开(公告)号：CN115376606B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202210960777.7
申请日：2022-08-11
申请人： 深圳市晶存科技股份有限公司
发明人： 刘孜
摘要： 本发明公开了一种动态随机存储器通道测试方法、系统、装置及存储介质，方法包括：对待测试动态随机存储器写入预先获取的测试背景数据；读取待测试动态随机存储器的存储数据，将存储数据与测试背景数据进行比对，确定与测试背景数据不一致的存储数据的第一物理地址；通过EMI确定通道POS值，并根据通道POS值对第一物理地址进行通道解析，确定各第一物理地址所处的损坏通道，并根据损坏通道确定待测试动态随机存储器的通道测试结果。本发明可以定位动态随机存储器的损坏通道，提高了动态随机存储器测试全面性和准确性，从而提高了芯片的利用率，可广泛应用于存储器测试领域。
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公开(公告)号：CN113053450B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202110247275.5
申请日：2021-03-05
申请人： 深圳三地一芯电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种应用于Flash智能分析检测的检测方法、系统、智能终端以及计算机可读存储介质，其包括S1、获取Column总集、Page总集以及Block总集，预设坏Column总集、坏Page总集、错误阈值，以及初始坏Block模板；S2、基于错误阈值从Block总集中依次交替获取坏Page元素和坏Column元素，并依次交替更新坏Page总集和坏Column总集；S3、基于对应于不同错误阈值的各个坏Column总集和对应于不同错误阈值的各个坏Page总集，按照坏模板迭代策略更新错误阈值，从各个坏Column总集中获取最终Column总集，并从各个坏Page总集中获取最终Page总集；S4、获取最终坏Block模板。本发明具有降低bad Page对后续选取坏Column元素的操作造成的影响，减少虚假bad Column的产生，进而提高Nand Flash分析检测后的有效容量的效果。
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公开(公告)号：CN118588143A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410851729.3
申请日：2024-06-28
申请人： 苏州元脑智能科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种固态硬盘自检方法、系统、设备及计算机存储介质，涉及存储技术领域，应用于固态硬盘，获取固态硬盘的存储软件传输的目标NVME admin命令；对目标NVME admin命令进行解析，得到目标自检项；执行目标自检项，并在自检状态机中实时记录目标自检项的状态；确定目标自检项对应的检测结果；将检测结果存储至日志页中。本申请中，存储软件可以通过目标NVME admin命令将目标自检项发送给固态硬盘，从而可以使得固态硬盘按照存储软件发送的目标自检项进行自检，使得外界可以对固态硬盘的自检过程进行管控，提高了对固态硬盘的自检管控性，且便于外界通过日志页获知检测结果，提高了用户体验性。
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公开(公告)号：CN118588142A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202310201823.X
申请日：2023-03-02
申请人： 中山市江波龙电子有限公司
发明人： 周博
IPC分类号： G11C29/04
摘要： 本申请涉及存储技术领域，提供一种闪存分析方法、电子设备及存储介质，该方法通过确定闪存的各个存储单元的相对电子数量，从而根据各个存储单元的相对电子数量生成存储单元窥视图及/或存储单元窥视色阶图，进而根据所述存储单元窥视图及/或所述存储单元窥视色阶图对所述闪存进行异常分析。本申请能够快速且准确的定位导致闪存发生异常的原因。
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公开(公告)号：CN113168881B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN201980080218.3
申请日：2019-12-18
申请人： 桑迪士克科技有限责任公司
摘要： 本发明描述了用于检测存储器设备中字线和源极线之间短路的技术，以及用于从此类短路恢复的方法。在一个方面，当选定的字线在异常低数量的编程循环之后完成编程时，在编程操作中检测短路。执行进一步检查以确认存在短路。然后擦除短路字线并对先前编程的字线执行恢复读取。在另一方面，在读取操作中检测到短路。
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公开(公告)号：CN117971614B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410382840.2
申请日：2024-03-29
申请人： 苏州元脑智能科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种时钟检测方法、系统、设备、介质及服务器，涉及数据处理领域，用于解决单线通信时存在的由于时钟不准确导致的数据传输不准确的问题。该方案将自身的时钟信号和数据信号进行编码得到通信信号；将通信信号发送至基板管理控制器，以使其对通信信号进行解析，并基于解析得到的时钟信号判断硬盘的时钟是否准确。本申请通过硬盘状态引脚可以实现对硬盘日志数据、硬盘状态信号和时钟信号的传递，且通过对时钟信号和数据信号进行编码，以及对通信信号解析可以对硬盘的时钟进行校准，进而可以确定数据信号是否基于正确的时钟传输，以及时发现问题确保数据信号传输的准确性，进而确保监控硬盘的可靠性。
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公开(公告)号：CN113517018B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202010279779.0
申请日：2020-04-10
申请人： 华邦电子股份有限公司
发明人： 潘嗣文
摘要： 本发明提供一种存储器装置的测试方法，可降低测试的错误覆盖率。内存装置的测试方法包括：关闭存储器装置的备援功能，并对第一存储单元数组写入第一数据；启动存储器装置的备援功能，并对第二存储单元数组写入第二数据，其中第一数据与第二数据互补；依据边界条件，对非易失存储区块读取备援信息，基于备援信息，读取第二存储单元数组以获得第一读取数据；以及依据比较第二数据与第一读取数据以产生第一测试结果。其中，第二存储单元数组包括第一存储单元数组的部分存储单元以及至少一备援存储单元。
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公开(公告)号：CN116913357A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310403642.5
申请日：2023-04-14
申请人： 恩智浦有限公司
发明人： 李炯仲
摘要： 一种用于验证存储器读取能力的系统包括：存储器装置，所述存储器装置具有编码有验证信息的存储器单元阵列；以及存储器读取控制器，所述存储器读取控制器耦合到所述存储器装置且被配置成执行所存储的过程步骤。所述验证信息包括编码在所述存储器单元阵列的第一行中的第一位值和编码在所述存储器单元阵列的第二行中的第二位值。与所述第一位值中的对应一者在同一位线上的所述第二位值中的每一者具有与所述第一位值中的所述对应一者取反的值。所述所存储的过程步骤包括以下步骤：从所述存储器装置读取所述验证信息；通过与预存储位串比较而确定所述第一位值和所述第二位值是否正确；以及响应于肯定确定，发起正常数据读取操作。
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