一种痕迹检验综合仪
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108107560B

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN201810062015.9

    申请日:2018-01-23

    发明人: 梁英辉 刘荣和

    摘要: 本发明公开了一种痕迹检验综合仪,涉及刑事侦查司法鉴定设备领域,包括底座、立柱、显微摄像物镜、四段照明环形灯以及紫外红外多波段光源、弹头膛线扫描装置、弹底弹槽观察装置、圆柱积分球扫描装置、圆筒内壁扫描装置7,大视场扫描装置、测量载物台、双动态合像观察装置、紫外红外多波段光源以及超景深观察装置等部分,本发明的痕迹检验综合仪,综合程度大,结构新颖,操作简便,制造成本较低,可辅助刑侦人员快速破案,社会效益较好。

    一种折射率匹配荧光成像系统及球壳透镜加载装置

    公开(公告)号:CN118244468A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410547810.2

    申请日:2024-05-06

    发明人: 费鹏 冯文阳

    摘要: 本发明提供了一种折射率匹配荧光成像系统,所述系统包括成像物镜、以及球壳透镜;所述球壳透镜具有共球心的球形外表面和球形内表面;球壳透镜外表面的半径R大于其内表面半径r;所述球壳透镜的球心处于所述成像物镜的主光轴上,所述球壳透镜与成像物镜之间存在间距;所述成像物镜经所述球壳透镜的成像焦点处于所述球壳透镜球心至物镜原焦点之间;所述球壳透镜与所述成像物镜的距离为L,(L+R)

    超分辨结构光照明显微镜的频谱优化直接重建方法

    公开(公告)号:CN116402678B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202211633195.4

    申请日:2022-12-19

    发明人: 文刚 梁永 李辉

    IPC分类号: G06T3/40 G02B21/16 G01N21/64

    摘要: 本发明公开了一种超分辨结构光照明显微镜的频谱优化直接重建方法(direct‑SIM),方法包括:读取原始SIM图像;生成或读取测量的PSF;原始数据预处理增强等效调制深度;图像域直接重建初始超分辨图像;频率域频谱优化;去卷积获得最终超分辨图像。与大多数基于Wiener‑SIM架构的SIM算法不同,本发明的direct‑SIM采用图像域初始重建与频率域频谱优化的联合策略,在没有任何照明条纹先验知识并绕过伪影敏感的Wiener去卷积流程的情况下,可获得具有最少化伪影且分辨率加倍的超分辨图像。本发明可应用于实验室自主搭建SIM系统和商业化SIM系统的数据处理。并且,本发明可应用于现有重建算法难以处理的许多场景,可重建高质量超分辨图像。

    成像系统
    5.
    发明公开
    成像系统 审中-公开

    公开(公告)号:CN116338927A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202310358047.4

    申请日:2023-04-04

    IPC分类号: G02B21/16 G02B27/00

    摘要: 本发明涉及显微镜成像技术领域,公开了一种特别适用于宽带紫外波段成像的成像系统,其包括折射反射透镜组、镜筒透镜组及光路折叠反射组件,所述折射反射透镜组包括折射反射组件、场镜组件及聚焦组件,所述折射反射组件将来自物体的光聚焦到所述场镜组件上以校正色差,校正色差后的光依次经所述聚焦组件、所述镜筒透镜组及所述光路折叠反射组件后在像面成像,其中,所述成像系统的放大率为M,且满足如下条件:M=F1/F2,F1为所述折射反射透镜组的焦距,F2为所述镜筒透镜组的焦距,且所述镜筒透镜组在不改变高阶色差的情况下具有变焦范围,所述光路折叠反射组件具有适应所述镜筒透镜组的变焦范围的光路距离变化范围。

    一种减小全反射探测光束占用范围的装置和方法

    公开(公告)号:CN116027534A

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN202310114548.8

    申请日:2023-02-02

    申请人: 之江实验室

    IPC分类号: G02B21/02 G02B21/34 G02B21/16

    摘要: 一种减小全内反射探测光束占用范围的装置,包括棱镜Ⅰ、棱镜Ⅱ、普通载玻片、两块边界棱镜、显微物镜及折射率匹配液。使棱镜Ⅰ和棱镜Ⅱ和两块边界棱镜组合形成一块中空的棱镜区域,用较薄的载玻片作为底部组合成一块中间能够伸入物镜的结构,并使用折射率匹配液填充中间的空隙。本发明还提供基于一种减小全内反射探测光束占用范围的装置的方法。本发明解决了紫外物镜工作距离短、全内反射探测光束占用范围大的问题,使全内反射不需要特制棱镜,同时也减小了紫外物镜的工作距离,能够使用更高NA的紫外物镜,缩小光斑聚焦大小,系统的分辨率和稳定性更高,实验结果更加准确。装置结构简单、紧凑、方法易操作,更易于小型化、实用化和商用化。

    用于确定样品中分子的位置的方法、计算机程序和设备

    公开(公告)号:CN115552223A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202180034359.9

    申请日:2021-05-25

    IPC分类号: G01N21/64 G02B21/16 G02B21/00

    摘要: 本发明涉及一种用于借助定位显微镜确定样品中两个或更多个相互间隔的分子在一个或多个空间方向上的位置的方法、具有指令的计算机程序以及设备。此外,本发明还涉及一种定位显微镜,其使用根据本发明的设备。为了确定分子的位置,使用由于相干光的干涉而产生的光分布。在该方法中,使用具有多个可切换像素的第一光调制器生成多个光分布(S1)。第一光调制器布置在定位显微镜的成像平面中。每个光分布具有局部的强度最小值和与之邻接的强度增加区域。利用相应的光分布照射(S2)两个或更多个分子中的每一个。对于每个光分布,针对光分布的不同定位检测(S4)由分子发出的光子。在此,所述光分布相互无关地定位(S3)。最后,基于针对光分布的不同定位检测到的光子,推导(S5)出分子的位置。

    对生物样品进行三维成像的方法及光片显微镜系统

    公开(公告)号:CN115437131A

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202110619532.3

    申请日:2021-06-03

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G02B21/16 G02B21/36

    摘要: 本公开涉及一种利用光片显微镜对生物样品进行三维成像的方法及光片显微镜系统,所述方法包括:在生物样品中使用光控荧光蛋白分子作为荧光探针,依序以如下步骤对各组子区域进行成像:使用控制激光照射该组子区域,以使得该组子区域中的光控荧光蛋白分子能够在激发光的照射下发射荧光;使用由光片显微镜基于激发激光形成的激发光片来激发该组子区域中的光控荧光蛋白分子以发射荧光;利用所发射的荧光对该组子区域进行成像;以及拼接各组子区域的成像结果,以得到生物样品的三维成像结果。本发明利用光控荧光蛋白的光控变换特性来解决光片显微镜对大体积透明化生物样品进行高分辨率三维成像时遇到的光漂白问题。

    具有在至少两个波长范围之间的区分功能的高分辨率扫描显微术

    公开(公告)号:CN111812831B

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202010654489.X

    申请日:2015-08-05

    摘要: 针对高分辨率的扫描显微成像,试样(2)被利用照明辐射(5)以如下方式受激发射荧光辐射,使得照明辐射(5)集束到试样(2)中或上的一点上,以形成受衍射限制的光斑(14)。所述点受衍射限制地成像到具有位置分辨能力的平面检测器(19)上的衍射图(17)中,其中,平面检测器(19)具有对衍射图(17)的衍射结构加以分辨的位置分辨能力。试样(2)借助于具有小于光斑(14)直径一半的步进幅度的、不同的扫描位置来采样。基于平面扫描器(19)的数据以及基于对应上述数据的扫描位置产生试样(2)的图像,所述图像具有通过成像的分辨率极限来升高的分辨率。为了对试样(2)的荧光辐射中的至少两个预先确定的波长范围加以区分,在平面检测器(19)上针对至少两个预先确定的波长范围,产生相应数量的衍射艾里斑(30‑33),所述衍射艾里斑沿侧向彼此错开,使得衍射图(17)由彼此错开的衍射艾里斑(30‑33)构成。在产生试样(2)的图像时,对衍射艾里斑(30‑33)加以评估。

    用于定位显微的方法和系统、计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN111656246B

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN201880085005.5

    申请日:2018-12-21

    摘要: 本公开提供了用于定位显微的方法和系统、计算机可读存储介质。本发明的实施方式提供了用于处理显微图像以能够对高密度原始数据进行定位分析并从而实现比另外的情况高的空间分辨率的方法和系统。这是通过利用因接近的发射体而产生的图像数据中的时间冗余来实现的,否则,如果接近的发射体同时发射或发荧光,则被分辨为单个发射体,但是由于在稍微不同(但可能交叠)的时间发射或发荧光,所以可以由不同时间带宽的不同滤波器对其进行时间滤波,以分辨两个发射体。有效地,不同时间滤波器具有不同时间常数,其共同起作用以有效地强调两个发射体的不同发射或发荧光时间,从而允许分离地分辨两个接近的发射体。