产品测试方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN115102640B

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202210707115.9

    申请日:2022-06-21

    Abstract: 本申请涉及一种产品测试方法、装置、计算机设备。所述方法包括:基于射频开关控制信息确定射频开关矩阵设备中的信号输入射频开关、信号中转射频开关和信号输出射频开关;基于信号输出端口、信号输入射频开关和第一待测通道端口建立测试信号输出路径,基于信号接收端口、信号输入射频开关、信号中转射频开关、信号输出射频开关和第二待测通道端口建立测试信号接收路径;通过信号输出端口、测试信号输出路径将测试信号发送至第一待测通道端口,并在信号接收端口中获取第二待测通道端口通过测试信号接收路径返回的反馈信号;基于反馈信号和测试信号确定待测产品对应的测试结果。采用本方法能够提高待测产品的测试准确性。

    一种用于测试5G基站的电磁辐射水平的方法和系统

    公开(公告)号:CN117750412A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311821137.9

    申请日:2023-12-27

    Abstract: 本发明提供了一种用于测试5G基站的电磁辐射水平的方法和系统。该方法包括:在测试环境下,按照待测5G基站的实际工作参数配置测试用的目标5G基站的参数;令目标5G基站与终端建立连接;定位目标5G基站与终端之间的下行链路中的5G NR SSB信号,并确定5G NR SSB信号的中心频率;基于5G NR SSB信号的中心频率,检测SSB信号的每个资源粒子的辐射功率;将SSB信号的每个资源粒子的辐射功率转换为SSB信号的每个资源粒子的电场强度;根据SSB信号的每个资源粒子的电场强度,通过外推法计算得到目标5G基站的最大场强作为待测5G基站的电磁辐射水平值,其中,在外推法计算中引入指定外推因子,指定外推因子与经确定的5G基站的参数中影响5G基站的电磁辐射水平的主要因素相关。

    基于近场功率反馈的阵列天线远场检测装置及方法

    公开(公告)号:CN115118355A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202210805480.3

    申请日:2022-07-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于近场功率反馈的阵列天线远场检测装置及方法,所述装置包括数字发射基带控制板(1)、射频发射通道(2)、功分器(3)、模拟发射波束成形器(4)、放大器(5)、发射阵列天线(6)、近场接收阵列天线(7)和功率检测模块(8)。本发明在发射阵列天线的近场区域部署接收阵列天线,并实时的测量各个接收阵列天线上的实际接收信号功率,将其与期望接收信号功率进行对比,从而检测发射阵列天线的远场特性是否发生改变。

    信号屏蔽检测方法和系统

    公开(公告)号:CN110492952B

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN201910754646.1

    申请日:2019-08-15

    Abstract: 本发明涉及一种信号屏蔽检测方法和系统,屏蔽系统先接收基站信号,根据基站信号生成并发射屏蔽信号,屏蔽信号可以屏蔽基站信号被终端设备接收,在屏蔽系统接收基站信号的时隙,可以获取基站信号频谱,在屏蔽系统发射屏蔽信号的时隙,获取屏蔽信号频谱,利用这两种频谱之间的关系可以得知屏蔽系统对基站信号的屏蔽(强度差异的深度)效果性能,而且由于屏蔽系统接收基站信号的时隙和屏蔽系统发射屏蔽信号的时隙是屏蔽系统在工作时的同一个屏蔽周期的时隙,因此在屏蔽系统正常工作时就可实现检测,无需再将屏蔽系统关闭来测试基站信号强度,从而简化检测时对屏蔽系统的操作,使对屏蔽性能检测的过程更加方便快捷。

    静态参数的确定方法、装置、终端和存储介质

    公开(公告)号:CN112865884A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202011441190.2

    申请日:2020-12-11

    Inventor: 潘非

    Abstract: 本申请涉及一种静态参数的确定方法、装置、终端和存储介质,在射频放大链路的当前测试时隙中,终端可以采用预设的多个备选静态参数对射频放大链路进行射频性能测试,获得多个射频测试结果;然后,根据多个射频测试结果,确定射频放大链路在下一工作时隙内采用的工作静态参数;其中,备选静态参数用于确定射频放大链路中的功率放大器的静态工作电流;当前测试时隙位于相邻两个工作时隙之间。采用上述方法可以动态地调整每个工作时隙内的静态参数,达到动态优化工作时隙内的射频性能的效果。

    BTM老化测试系统
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108574542A

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201810535934.3

    申请日:2018-05-29

    CPC classification number: H04B17/18 H04B17/29

    Abstract: 本发明的BTM老化测试系统,包括A接口模拟装置、上位机、串口服务器、被测的BTM主机;上位机通过串口服务器与BTM主机通讯;A接口模拟装置通过BTM天线电缆与BTM主机连接;A接口模拟装置包括射频电阻、RSG、27MHz滤波板、射频连接器;射频电阻作为负载,代替BTM天线,用于吸收BTM主机发射的27MHz射频信号能量;RSG的程序中包含测试报文,定时为BTM主机发送4.23MHz报文信息;射频连接器连接BTM天线电缆、射频电阻和27MHz滤波板,并传输信号;BTM老化测试系统通能对多台被测的BTM主机的运行状态实时监测,实现高效率批量老化测试;同时该系统消除了老化过程中的电磁辐射及电磁干扰。

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