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公开(公告)号：CN105453215B
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201380078720.3
申请日：2013-08-08
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 上田学
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/4215 , H01J49/005 , H01J49/06 , H01J49/24
Abstract: 本发明的三重四级杆质谱仪求出前体离子的质荷比或者产物离子的质荷比等参数与在MRM测定中赋予最大信号强度的最佳碰撞气体压力的关系而导出近似计算公式，并将该计算公式的信息存储在最佳碰撞气体压力计算信息存储部(52)中。测定时，分析人员输入目标化合物的前体离子或产物离子的质荷比。所述最佳碰撞气体压力计算部(51)根据从所述存储部(52)中读出的近似计算公式求出与所指定的前体离子或产物离子相对应的最佳碰撞气体压力，将其设定为装置的测定条件。由此，分析人员无须进行预测定即可设定针对目标化合物的最佳碰撞气体压力，所以测定的吞吐量提高。
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公开(公告)号：CN104508792B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201380039150.7
申请日：2013-06-18
Applicant: 莱克公司
CPC classification number: H01J49/406 , H01J49/0027 , H01J49/0031 , H01J49/005 , H01J49/0081 , H01J49/10
Abstract: 公开了为两个MS级利用多反射飞行时间分析仪的全质量串联式质谱仪的方法和装置，其中所述两个MS级优选地被布置在同一个分析仪内以确保极高的分辨率。TOF-TOF串联体的灵敏度和速度通过基于信号稀疏性和在真实碎片信号的多次重复下避免重复性信号重叠的非冗余复用而得以增强。门和延迟定时的非冗余矩阵通过扩展正交拉丁方矩阵来构建。所述方法一般性地适用于对在谱、空间或时间上稀疏的任何多个重复信号源的复用。
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公开(公告)号：CN105829880B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201380081698.8
申请日：2013-12-17
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 朝野夏世
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/005 , G01N30/7266 , H01J49/0031 , H01J49/0045 , H01J49/063 , H01J49/165
Abstract: 本发明中，真空度相对较低的第1中间真空室(212)内所发生的离子的解离的程度具有能量依赖性，且取决于离子的大小等。因此，对离子导向器(24)施加规定的最佳直流偏压，以在第1中间真空室(212)内形成使得来源于试样中的目标化合物的离子不怎么解离、而在观测该目标化合物时成为噪声的来源于夹杂物的离子的解离得到促进这样的直流电场。最佳直流偏压是通过使用提取离子色谱来评价SN比而预先求出的，所述提取离子色谱是基于在改变直流偏压的条件下采集到的数据的色谱。由此，与仅着眼于目标化合物的信号强度的以往的装置相比，定量的精度、灵敏度进一步提高。
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公开(公告)号：CN105531794B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201480049941.2
申请日：2014-09-10
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Inventor： A·A·马卡罗夫
IPC: H01J49/00
CPC classification number: H01J49/005 , H01J49/0036 , H01J49/0077 , H01J49/009 , H01J49/40
Abstract: 本发明涉及一种质谱仪，其包括：离子源，其产生具有质荷比比率的初始范围的离子；辅助离子检测器，其位于所述离子源的下游，接收从由所述离子源产生的所述离子得出的多个第一离子样本且确定所述多个第一离子样本中的每一者的相应离子电流测量值；质量分析仪，其位于所述离子源的下游，接收从由所述离子源产生的所述离子得出的第二离子样本且通过所述第二离子样本的质量分析而产生质谱数据；以及输出级，其基于由所述辅助离子检测器确定的所述离子电流测量值而建立与由所述离子源产生的所述离子中的至少一些相关联的丰度测量值。
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公开(公告)号：CN104781906B
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201380059039.4
申请日：2013-11-21
Applicant: DH科技发展私人贸易有限公司
Inventor： J·L·坎贝尔
IPC: H01J49/26
CPC classification number: H01J49/005 , H01J49/0031
Abstract: 本发明提供用于减少MS3实验的CID事件的时间周期且使总体碎裂事件更具一般性的系统及方法。使用处理器将由质谱仪对样本执行的MS3实验的CID事件划分成两个时间周期。在所述CID事件的第一时间周期开始时，指令所述质谱仪既打开脉冲阀以便以脉冲方式输送碰撞气体又施加第一CID电压。在所述CID事件的第二时间周期开始时，指令所述质谱仪既关闭所述脉冲阀又施加第二CID电压。在所述第二时间周期期间对所述质谱仪进行抽气。所述抽气与CID在时间上的重叠减少所述CID事件的所述总体时间周期。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103515183B
公开(公告)日：2017-06-23
申请号：CN201210203634.8
申请日：2012-06-20
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H01J49/066 , G01N27/622 , H01J49/005 , H01J49/065 , H01J49/26
Abstract: 本发明提出一种离子导引装置和离子导引方法。本发明的离子导引装置包括：多个环形组件，多个环形组件沿同一中心轴线并排分布，其中每个环形组件由多个分立的分段电极围成；电源装置，其将相位相异的射频电压提供至每个环形组件的相邻的分段电极上，将相位相异的射频电压提供至沿中心轴线的相邻的分段电极上，且将直流电位提供至每个环形组件的分段电极上，其中，直流电位的分布使离子在沿中心轴线方向运动时发生朝向所述离子导引装置径向的偏转。这种离子导引装置和方法可以实现一定真空度下的离子传输和聚焦，特别是可以实现离子的偏轴传输以降低中性成分噪音。
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公开(公告)号：CN105659077A
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201380080408.8
申请日：2013-10-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N27/62
CPC classification number: H01J49/005 , G01N30/72 , H01J49/0031
Abstract: 在本发明的色谱质谱仪中，最佳气压探索控制部(42)一边改变碰撞气压，一边执行针对目标化合物的MRM测定，根据其测定结果来探索给出最大信号强度的最佳碰撞气压，并针对每一化合物而预先存储在化合物对应信息存储部(43)中。在执行多成分同时分析时，若指定目标化合物，则控制序列确定部(44)从所述存储部(43)中读出对应于所指定的化合物的最佳碰撞气压和滞留时间的信息，制作在各化合物洗脱的时刻碰撞池(31)内的气压达到最佳气压这样的控制序列，并存储至控制序列存储部(45)。根据本发明，通过一边按照所制作的控制序列来控制气压，一边执行针对试样的测定，任何化合物均能以高灵敏度加以检测。本发明可运用于LC/MS/MS或GC/MS/MS。
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公开(公告)号：CN103222030B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201180050040.1
申请日：2011-09-30
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 塩浜彻
CPC classification number: H01J49/26 , H01J49/0031 , H01J49/005
Abstract: 一种MS/MS型质谱分析装置，包括：第一、第二质量分离部、离子开裂部、检测器及控制部。第一质量分离部挑选具有特定质荷比的离子作为前体离子。离子开裂部使前体离子开裂。第二质量分离部挑选因开裂而产生的具有特定质荷比的离子。检测器检测第二质量分离部所挑选的产物离子。控制部包括：a)事件准备部，针对某种成分的前体离子，准备使离子开裂部及第二质量分离部中的至少一个部分的条件发生变化的产物离子扫描事件、及不使条件发生变化的产物离子扫描事件中的多个产物离子扫描事件；b)事件执行部，执行已准备的多个产物离子扫描事件；以及c)检测部，从已执行的全部的产物离子扫描事件所产生的全部的质谱中，检测出出现频率最高的质量峰值。
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公开(公告)号：CN104781906A
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201380059039.4
申请日：2013-11-21
Applicant: DH科技发展私人贸易有限公司
Inventor： J·L·坎贝尔
IPC: H01J49/26
CPC classification number: H01J49/005 , H01J49/0031
Abstract: 本发明提供用于减少MS3实验的CID事件的时间周期且使总体碎裂事件更具一般性的系统及方法。使用处理器将由质谱仪对样本执行的MS3实验的CID事件划分成两个时间周期。在所述CID事件的第一时间周期开始时，指令所述质谱仪既打开脉冲阀以便以脉冲方式输送碰撞气体又施加第一CID电压。在所述CID事件的第二时间周期开始时，指令所述质谱仪既关闭所述脉冲阀又施加第二CID电压。在所述第二时间周期期间对所述质谱仪进行抽气。所述抽气与CID在时间上的重叠减少所述CID事件的所述总体时间周期。
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公开(公告)号：CN103456596A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310218253.1
申请日：2013-06-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/0404 , H01J49/00 , H01J49/005 , H01J49/04 , H01J49/0409 , H01J49/0422 , H01J49/0431 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/24
Abstract: 本发明提供质量分析装置（100），其测定试样的更换容易，且能抑制带水。该质量分析装置具有：分离被离子化的试样气体的质量分析部（102）；利用来自质量分析部的差动排气对内部进行减压，并对上述试样气体进行离子化的离子源（101）；使测定试样气化，并且产生试样气体的试样容器（17）；将在试样容器产生的试样气体导入离子源的细管（11）；连接试样容器与细管，且开闭自如的弹性管（12）；以夹住弹性管的方式关闭或打开弹性管的堰（13a、13b）；以及使试样容器、细管以及弹性管一体化，并能一并地从主体装卸的筒（8）。试样容器在筒的脱离状态时，能相对于筒装卸。
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