公开(公告)号：CN101162585B

公开(公告)日：2010-12-01

申请号：CN200710136762.4

申请日：2007-07-27

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： R·G·比斯克伯恩 ,  J·M·卡普

IPC: G11B5/265 ,  G11B5/29 ,  G11B5/584

CPC classification number: G11B5/29 ,  G11B5/00826 ,  G11B5/5926

Abstract: 根据一个实施例的磁头包括一个读取器阵列，每个读取器具有轨道宽度，其中阵列的内侧读取器的轨道宽度大于相对的外侧读取器的轨道宽度。根据另一个实施例的磁头包括一个读取器阵列，每个读取器具有轨道宽度，其中至少一些读取器的轨道宽度在沿阵列从阵列中间朝阵列末端的方向逐渐减小。

公开(公告)号：CN106057216A

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201610207932.2

申请日：2016-04-06

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： G·舍鲁比尼 ,  S·富勒 ,  R·A·胡钦斯 ,  J·杰利托

IPC: G11B5/584

CPC classification number: G11B20/10231 ,  G11B5/00813 ,  G11B5/584 ,  G11B5/5926 ,  G11B5/59666 ,  G11B5/59688 ,  G11B20/10388 ,  G11B20/18

Abstract: 本发明涉及用于调节用于带系统的内插采样间隔的方法和装置。在一个一般实施例中，一种方法包括：使用如下中的至少一个来确定用于内插器的采样间隔：存储在存储器中的预定义数据，和位置误差信号的标准偏差。该方法进一步包括：响应于确定所述采样间隔，将所述采样间隔应用到所述内插器。在另一个一般实施例中，一种装置包括内插器和控制器。所述控制器被配置来：使用如下中的至少一个来确定用于内插器的采样间隔：存储在存储器中的预定义数据，和位置误差信号的标准偏差。所述控制器还被配置来响应于确定所述采样间隔，将所述采样间隔应用到所述内插器。

公开(公告)号：CN101162585A

公开(公告)日：2008-04-16

申请号：CN200710136762.4

申请日：2007-07-27

Applicant: 国际商业机器公司

Inventor： R·G·比斯克伯恩 ,  J·M·卡普

IPC: G11B5/265 ,  G11B5/29 ,  G11B5/584

CPC classification number: G11B5/29 ,  G11B5/00826 ,  G11B5/5926

Abstract: 根据一个实施例的磁头包括一个读取器阵列，每个读取器具有轨道宽度，其中阵列的内侧读取器的轨道宽度大于相对的外侧读取器的轨道宽度。根据另一个实施例的磁头包括一个读取器阵列，每个读取器具有轨道宽度，其中至少一些读取器的轨道宽度在沿阵列从阵列中间朝阵列末端的方向逐渐减小。