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公开(公告)号：CN101044370A
公开(公告)日：2007-09-26
申请号：CN200480041546.6
申请日：2004-11-18
申请人： QED国际科技公司
CPC分类号： G01B11/272 , B23Q17/22 , B23Q17/2495
摘要： 一种用于校正和对准计量系统的方法，其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器，并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系，校准机器和嵌入式量具的各个分量，并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤：粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴，并且为转动轴设置标称零点；将嵌入式量具主机架对准机器轴线；将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上；如此对准之后，确定转动轴之间的空间偏移；精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴；以及为转动轴设置精确的零点。
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公开(公告)号：CN102519399A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110339355.X
申请日：2004-11-18
申请人： QED国际科技公司
IPC分类号： G01B11/27
CPC分类号： G01B11/272 , B23Q17/22 , B23Q17/2495
摘要： 一种用于校准多轴计量系统的几何形状的方法，其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器，并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系，校准机器和嵌入式量具的各个分量，并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤：粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴，并且为转动轴设置标称零点；将嵌入式量具主机架对准机器轴线；将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上；如此对准之后，确定转动轴之间的空间偏移；精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴；以及为转动轴设置精确的零点。
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公开(公告)号：CN102519399B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201110339355.X
申请日：2004-11-18
申请人： QED国际科技公司
IPC分类号： G01B11/27
CPC分类号： G01B11/272 , B23Q17/22 , B23Q17/2495
摘要： 一种用于校准多轴计量系统的几何形状的方法，其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器，并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系，校准机器和嵌入式量具的各个分量，并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤：粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴，并且为转动轴设置标称零点；将嵌入式量具主机架对准机器轴线；将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上；如此对准之后，确定转动轴之间的空间偏移；精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴；以及为转动轴设置精确的零点。
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公开(公告)号：CN101975561B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201010514912.2
申请日：2004-11-18
申请人： QED国际科技公司
IPC分类号： G01B11/27
CPC分类号： G01B11/272 , B23Q17/22 , B23Q17/2495
摘要： 一种用于校准多轴计量系统的几何形状的方法，其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器，并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系，校准机器和嵌入式量具的各个分量，并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤：粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴，并且为转动轴设置标称零点；将嵌入式量具主机架对准机器轴线；将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上；如此对准之后，确定转动轴之间的空间偏移；精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴；以及为转动轴设置精确的零点。
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公开(公告)号：CN100520288C
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200480041546.6
申请日：2004-11-18
申请人： QED国际科技公司
CPC分类号： G01B11/272 , B23Q17/22 , B23Q17/2495
摘要： 一种用于校正和对准计量系统的方法，其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器，并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系，校准机器和嵌入式量具的各个分量，并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤：粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴，并且为转动轴设置标称零点；将嵌入式量具主机架对准机器轴线；将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上；如此对准之后，确定转动轴之间的空间偏移；精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴；以及为转动轴设置精确的零点。
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公开(公告)号：CN101539413B
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200910135491.X
申请日：2004-11-18
申请人： QED国际科技公司
CPC分类号： G01B11/272 , B23Q17/22 , B23Q17/2495
摘要： 一种用于校正和对准计量系统的方法，其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器，并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系，校准机器和嵌入式量具的各个分量，并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤：粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴，并且为转动轴设置标称零点；将嵌入式量具主机架对准机器轴线；将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上；如此对准之后，确定转动轴之间的空间偏移；精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴；以及为转动轴设置精确的零点。
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公开(公告)号：CN101975561A
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN201010514912.2
申请日：2004-11-18
申请人： QED国际科技公司
IPC分类号： G01B11/27
CPC分类号： G01B11/272 , B23Q17/22 , B23Q17/2495
摘要： 一种用于校准多轴计量系统的几何形状的方法，其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器，并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系，校准机器和嵌入式量具的各个分量，并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤：粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴，并且为转动轴设置标称零点；将嵌入式量具主机架对准机器轴线；将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上；如此对准之后，确定转动轴之间的空间偏移；精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴；以及为转动轴设置精确的零点。
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公开(公告)号：CN101622548A
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：CN200880006869.X
申请日：2008-02-27
申请人： QED国际科技公司
IPC分类号： G01R33/12
摘要： 本发明提供一种用于确定材料的磁导率的系统。两个电感形成主和次同心线圈，共享公共的磁芯部空间。施加至所述主线圈的第一AC电压在所述芯部中产生与所述材料的所述磁导率成正比的磁通。所述磁通在所述次线圈中感生AC电压，所述AC电压指示所述样品的所述表观磁导率。通过施加第二AC电压和在所述材料中设置的第一和第二电极上串联的电阻，对所述表观磁导率进行电导率的校正。当所述材料是磁流变流体时，所述磁导率与所述样品中的磁粒子的所述浓度成正比，并且可以从所述次电压信号的所述幅度中反计算出所述磁导率。
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公开(公告)号：CN101539413A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200910135491.X
申请日：2004-11-18
申请人： QED国际科技公司
CPC分类号： G01B11/272 , B23Q17/22 , B23Q17/2495
摘要： 一种用于校正和对准计量系统的方法，其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器，并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系，校准机器和嵌入式量具的各个分量，并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤：粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴，并且为转动轴设置标称零点；将嵌入式量具主机架对准机器轴线；将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上；如此对准之后，确定转动轴之间的空间偏移；精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴；以及为转动轴设置精确的零点。
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