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公开(公告)号：CN114685152B
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202011582107.3
申请日：2020-12-28
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
IPC分类号： C04B35/20
摘要： 本发明涉及电子陶瓷材料及其制造技术领域，具体涉及一种毫米波天线模组用低温共烧陶瓷材料，并进一步公开其制备方法。本发明所述毫米波天线模组用低温共烧陶瓷材料以Mg2SiO4为基体材料，并添加低K值低熔点玻璃粉形成，经成型烧结后的膜片，使用SPDR测试方法，在室温以及20GHz测试频率下，介电常数为7±0.2，介电损耗 150MPa，可作为5G通讯中毫米波天线模组的应用。
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公开(公告)号：CN111239498B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202010192691.5
申请日：2020-03-18
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
IPC分类号： G01R27/26
摘要： 本发明公开了一种材料介电性能的测试装置和测试方法。其中，该装置包括：电磁波吸收板、测试样品架、开放式谐振腔和网络分析仪，其中，开放式谐振腔由位于电磁波吸收板上方的第一凹面镜和第二凹面镜组成，且第一凹面镜和第二凹面镜的摆放角度和摆放位置可调节；以及该方法包括：在开放式谐振腔未加载待测试样品时，对开放式谐振腔进行测试；加载待测试样品并不断调整开放式谐振腔对应的摆放角度和摆放位置，直至开放式谐振腔内的待测试样品发生谐振，再对开放式谐振腔进行测试；基于所测试数据计算待测试样品的材料介电性能。本发明解决了在高频条件下测试介电材料性能的方法存在各种缺陷的技术问题。
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公开(公告)号：CN111533546B
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202010367535.8
申请日：2020-04-30
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
IPC分类号： C04B35/18 , C04B35/626 , C04B35/622 , C03C12/00
摘要： 一种高频低损耗的电介质材料，其包括以下质量百分比的组分：45‑60wt％的CBSZA玻璃粉和45‑55wt％的分子筛；其中，CBSZA玻璃粉包括以下质量百分比的组分：SiO2 45‑60％、B2O3 8‑30％、Al2O3 5‑20％、CaO 10‑30％、BaO 5‑10％、ZnO 5‑15％、Na2O 0‑5％；所述分子筛是CHA结构的分子筛。由该电介质材料制备得到的陶瓷片在10‑70GHz频段，具有介电常数k＝4.0‑6.0，介电损耗为0.002‑0.004。
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公开(公告)号：CN113252992A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110754642.0
申请日：2021-07-05
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
IPC分类号： G01R27/26
摘要： 本发明提供一种材料介电性能测试设备，包括耦合波导组件、第一反射镜、第二反射镜、驱动单元和支撑组件，将被测样品置入第一反射镜和第二反射镜之间所形成的谐振腔中，光束从耦合波导组件的发射端中输入至谐振腔中，在穿透被测样品后进入耦合波导组件的接收端，控制单元可获得与未置入被测样品时不同的谐振频率，从而计算出被测样品的相对介电常数，当需要改变谐振腔中的波频时，通过驱动单元使被测样品在所述第一反射镜与所述第二反射镜之间运动，检测被测样品在不同位置时所对应的电场，最强电场确定后，后续在该波频下进行不同被测样品的检测时均可将被测样品放置于该最强电场的位置，从而提高了最终所计算的复介电常数的准确度。
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公开(公告)号：CN111533546A
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN202010367535.8
申请日：2020-04-30
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
IPC分类号： C04B35/18 , C04B35/626 , C04B35/622 , C03C12/00
摘要： 一种高频低损耗的电介质材料，其包括以下质量百分比的组分：45-60wt％的CBSZA玻璃粉和45-55wt％的分子筛；其中，CBSZA玻璃粉包括以下质量百分比的组分：SiO2 45-60％、B2O3 8-30％、Al2O3 5-20％、CaO 10-30％、BaO 5-10％、ZnO 5-15％、Na2O 0-5％；所述分子筛是CHA结构的分子筛。由该电介质材料制备得到的陶瓷片在10-70GHz频段，具有介电常数k＝4.0-6.0，介电损耗为0.002-0.004。
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公开(公告)号：CN111499187A
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN202010351416.3
申请日：2020-04-28
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
IPC分类号： C03C3/068 , C03C3/066 , C03C12/00 , C03C4/16 , C04B35/20 , C04B35/626 , C04B35/622
摘要： 一种在20-60GHz高频频段内具有低损耗和低压电系数d33的玻璃材料，其由如下质量百分比的组分制备而成：SiO2 10-30wt％、B2O3 15-35wt％、Al2O3 0-10wt％、MgO 20-40wt％、CaO 8-30wt％、BaO 5-15wt％、ZnO 0-5wt％、Na2O 0-6％、M2O3>0-1％；其中，M为In、Yb、La或Y中的任意一种或几种。该玻璃材料制备得到的陶瓷片在高频段具有低介电常数和低介电损耗。
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公开(公告)号：CN114685152A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202011582107.3
申请日：2020-12-28
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
IPC分类号： C04B35/20
摘要： 本发明涉及电子陶瓷材料及其制造技术领域，具体涉及一种毫米波天线模组用低温共烧陶瓷材料，并进一步公开其制备方法。本发明所述毫米波天线模组用低温共烧陶瓷材料以Mg2SiO4为基体材料，并添加低K值低熔点玻璃粉形成，经成型烧结后的膜片，使用SPDR测试方法，在室温以及20GHz测试频率下，介电常数为7±0.2，介电损耗 150MPa，可作为5G通讯中毫米波天线模组的应用。
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公开(公告)号：CN113252992B
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN202110754642.0
申请日：2021-07-05
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
IPC分类号： G01R27/26
摘要： 本发明提供一种材料介电性能测试设备，包括耦合波导组件、第一反射镜、第二反射镜、驱动单元和支撑组件，将被测样品置入第一反射镜和第二反射镜之间所形成的谐振腔中，光束从耦合波导组件的发射端中输入至谐振腔中，在穿透被测样品后进入耦合波导组件的接收端，控制单元可获得与未置入被测样品时不同的谐振频率，从而计算出被测样品的相对介电常数，当需要改变谐振腔中的波频时，通过驱动单元使被测样品在所述第一反射镜与所述第二反射镜之间运动，检测被测样品在不同位置时所对应的电场，最强电场确定后，后续在该波频下进行不同被测样品的检测时均可将被测样品放置于该最强电场的位置，从而提高了最终所计算的复介电常数的准确度。
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公开(公告)号：CN112444681A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202011378936.X
申请日：2020-11-30
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
摘要： 本发明提供一种介电材料测试系统、方法、装置及平台，其中，系统包括网络分析仪、动态截止频率滤波器、动态频率读取装置和准光腔；其中，所述网络分析仪输出的电磁波经由所述动态截止频率滤波器滤波后，在所述准光腔内形成谐振；所述动态截止频率滤波器的滤波参数是基于所述准光腔内的准光腔谐振频率确定的，所述准光腔谐振频率是所述动态频率读取装置采集的。本发明提供的系统、方法、装置及平台，通过加设动态截止频率滤波器和动态频率读取装置，滤除了准光腔中的非TEM00q模，使得Q值的测量不受非TEM00q模的影响，保证了测量所得Q值的真实性，进而保证介电材料测量的可靠性，提高了介电材料测量的精度。
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公开(公告)号：CN111697303A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010508062.9
申请日：2020-06-05
申请人： 山东国瓷功能材料股份有限公司
摘要： 本申请提供了一种谐振腔的耦合波导环的调节方法、调节装置和谐振腔。该调节方法包括：控制耦合波导环移动；实时获取移动过程中耦合波导环的散射参数；根据散射参数确定耦合波导环是否位于预定位置。上述方法通过在耦合波导环的移动过程中，检测耦合波导环的散射参数以确定耦合波导环是否位于预定位置，在耦合波导环位于预定位置的情况下，控制耦合波导环停止移动，即可完成调节，整个调节过程无需人工调控，实现了耦合波导环的自动调整。
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