平面显示板的驱动方法及平面显示装置

    公开(公告)号:CN100430990C

    公开(公告)日:2008-11-05

    申请号:CN200510077861.0

    申请日:2005-06-07

    发明人: 川口聖二

    IPC分类号: G09G3/36 G02F1/133

    摘要: 本发明的平面显示装置,包括:利用矩阵形的像素群显示图像的平面显示板(19);接收规定1水平描期间的水平同步信号和规定1垂直扫描期间的垂直同步信号的同时,接收从外部供给的视频信号的控制器(13);以及利用控制器(13)的控制在各垂直扫描期间将视频信号和非视频信号写入像素群的各行的驱动电路(17、18)。控制器(13)包含为与视频信号的写入定时连动地控制非视频信号的写入定时的插入定时设定部(14),插入定时设定部(14)对各垂直同步信号规定的垂直扫描期间供给的水平同步信号的数目进行计数,根据计数结果决定非视频信号的写入定时。

    液晶显示器和背后照明装置

    公开(公告)号:CN101236326A

    公开(公告)日:2008-08-06

    申请号:CN200710006361.7

    申请日:2007-01-31

    发明人: 大网幸男

    IPC分类号: G02F1/13357 G02F1/1335

    摘要: 提供一种能防止灯的热造成的偏振片伸展而导致的显示不匀的液晶显示器。在导光片(18)的背面形成由多个点组成的光分散点图案,光分散点图案包含大点(30)构成的稠密区(32)和小点(34)组成的稀疏区(36),并且将稀疏区(36)以从角部(38)往角部(40)延伸成圆弧状的线为边界,形成在长边侧。

    检查基板的方法、以及用于检查阵列基板的方法和装置

    公开(公告)号:CN1930514A

    公开(公告)日:2007-03-14

    申请号:CN200580006969.9

    申请日:2005-02-22

    发明人: 富田晓

    摘要: 在母板(100)的多个区域处形成有包括像素区域(30a-30f)的阵列基板部分(101a-101f)。在阵列基板部分的像素区域,多条扫描线和多条信号线彼此相交地形成,并且像素部分分别形成在扫描线和信号线的交点附近。在使用电子束测试器检查像素部分的检查方法中,通过将整个母板包含在真空腔中,用电子束扫描器并以电子束扫描形式照射的照射范围被设置成电子束扫描执行于阵列基板部分(101a-101f)的一部分上的范围或者在同时执行于所有阵列基板部分上的范围,以及获取关于位于照射区域内的阵列基板部分的像素部分的检查信息。

    显示器
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1871627A

    公开(公告)日:2006-11-29

    申请号:CN200480031431.9

    申请日:2004-10-22

    发明人: 久武雄三

    IPC分类号: G09F9/00 G09F9/30 H05B33/12

    摘要: 一种显示器包括选择性反射层SR,该选择性反射层SR位于1/4波片WP和发光层64之间并包括按预定的螺旋节距排列的液晶分子,该选择性反射层SR使第一圆偏振光通过而反射第二圆偏振光,第二圆偏振光具有与第一圆偏振光的偏振态相反的偏振态并具有预定的波长。发光层64具有至少一个峰值波长,并且当峰值波长的数目是m时选择性反射层SR包括m个选择性反射区域。当从发光层64中射出的光线的峰值波长是λp(k)(k=1,2,...,m从最小的波长起)时,峰值波长λp(k)小于通过使用于形成各选择性反射区域的选择性反射层SR的异常光折射率ne(k)乘以螺旋节距P(k)而获得的一个数值ne(k)P(k),并且大于通过使寻常光折射率no(x)乘以螺旋节距P(k)而获得的一个数值no(k)P(k)。在用于形成选择性反射区域的诸多选择性反射层之间建立这样一种关系:ne(k-1)P(k-1)<no(k)P(k)。

    基板检查方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1802591A

    公开(公告)日:2006-07-12

    申请号:CN200480015591.4

    申请日:2004-06-02

    摘要: 本发明提供了一种检查基板的方法,该方法能够减少修改和改正检查设备的设计的机会,从而抑制液晶显示器的产品成本的增加。在本发明的方法中,对形成在第一阵列区域中的一部分布线和形成在第二阵列区域中的一部分布线短路的公共接线端(101b)形成在基板上。来自公共接线端(101b)的电气信号被供给第一阵列区域和第二阵列区域二者。将电子束照射到像素电极,并基于从像素电极发射的二次电子的数据检查像素电极。