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公开(公告)号：CN109031729B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201811133013.0
申请日：2018-09-27
申请人： TCL华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本发明提供一种液晶面板耐压测试装置，所述液晶面板耐压测试装置包括支撑柱、升降杆、固定臂、内空漏斗、液体管路和液体罐，所述升降杆设置在所述支撑柱上，所述内空漏斗通过所述固定臂固定在所述升降杆上，待测试液晶面板放置在所述内空漏斗底部；本发明采用多节不同半径的漏斗组成的内空漏斗，通过液体罐沿着液体管路往内空漏斗内注入不同量的液体以及调整升降杆的高度，来达到不同重量、不同压着面积的测试，同时也可以通过调节支撑柱的位置实现不同位置的测试，使液晶面板耐压测试更加方便、快捷、高效。
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公开(公告)号：CN108594488B
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN201810404827.7
申请日：2018-04-28
申请人： TCL华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/13 , G02F1/1335
摘要： 本发明提供一种偏光片撕离装置及偏光片撕离方法。该偏光片撕离装置包括：承载平台、设于所述承载平台上的多个吸附装置、设于承载平台上并与多个吸附装置间隔设置的多个支架、设于所述多个支架上的上滑轨、与所述上滑轨滑动连接的上移动架、以及与所述上移动架转动连接的第一转动杆；所述吸附装置用于吸附基板，该基板表面贴附有偏光片，该偏光片一端具有与第一转动杆连接的预撕离区域；上移动架在上滑轨上进行滑动，并带动第一转动杆移动，第一转动杆移动过程中进行转动，卷起预撕离区域，并随着上滑轨滑动时撕离整片偏光片，从而实现偏光片的快速撕离，节省时间与人力，提高工作效率。
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公开(公告)号：CN111413814B
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202010347272.4
申请日：2020-04-28
申请人： TCL华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本申请提供一种显示面板测试装置，其包括：底座，用于放置待测显示面板；落球；第一导轨，设置于所述底座上且沿第一方向延伸；第二导轨，设置于所述第一导轨上且沿第二方向延伸，所述第二导轨用于沿着所述第一导轨在所述第一方向上运动；第三导轨，设置于所述第二导轨上且沿第三方向延伸，所述第三导轨用于沿着所述第二导轨在所述第二方向上运动；以及落球释放机构，设置于所述第三导轨上，用于在所述第三方向上的预设位置释放所述落球。
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公开(公告)号：CN111679460A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN202010488823.9
申请日：2020-06-02
申请人： TCL华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本发明实施例公开了一种显示面板不良的解析方法及装置，本发明实施例中方法包括：确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。
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公开(公告)号：CN111413814A
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN202010347272.4
申请日：2020-04-28
申请人： TCL华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本申请提供一种显示面板测试装置，其包括：底座，用于放置待测显示面板；落球；第一导轨，设置于所述底座上且沿第一方向延伸；第二导轨，设置于所述第一导轨上且沿第二方向延伸，所述第二导轨用于沿着所述第一导轨在所述第一方向上运动；第三导轨，设置于所述第二导轨上且沿第三方向延伸，所述第三导轨用于沿着所述第二导轨在所述第二方向上运动；以及落球释放机构，设置于所述第三导轨上，用于在所述第三方向上的预设位置释放所述落球。
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公开(公告)号：CN111679460B
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202010488823.9
申请日：2020-06-02
申请人： TCL华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本发明实施例公开了一种显示面板不良的解析方法及装置，本发明实施例中方法包括：确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。
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公开(公告)号：CN108490222B
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN201810344331.5
申请日：2018-04-17
申请人： TCL华星光电技术有限公司
IPC分类号： G01Q60/24
摘要： 本发明提供一种原子力显微镜扫描器，包括扫描器本体、至少一个弹性件、对应每一个所述弹性件设置的调节件以及旋转压紧件，所述扫描器本体中设有卡槽，所述卡槽中设有扫描探针，所述调节件设于所述扫描器本体上，每一所述弹性件套设于一个所述调节件上，每个所述弹性件包括第一移动端以及与所述第一移动端相对的第二移动端，所述第一移动端与所述调节件连接，所述第二移动端与所述旋转压紧件连接，所述调节件旋转带动所述弹性件压缩并旋转，以使所述第二移动端带动所述旋转压紧件旋转后压紧所述扫描探针。本发明解决了扫描探针在更换过程中容易损失的技术问题。
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公开(公告)号：CN108645794B
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN201810448675.0
申请日：2018-05-11
申请人： TCL华星光电技术有限公司
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/552
摘要： 本发明提供了一种反射率检测设备，包括检测箱体和压片固定件，所述检测箱体包括光路连通的光源、检测室和积分球单元，所述检测箱体一侧壁上设有一通孔，所述积分球单元设有一检测口，所述检测口固定在所述侧壁上并贯穿所述通孔，所述压片固定件包括一压片基板和设置于所述压片基板一侧的吸附件，所述吸附件与一负压装置相连接，所述负压装置用于为所述吸附件提供吸附力以固定吸附待测样品，所述吸附件与所述检测口活动贴合。本发明还提供了一种反射率检测设备的检测方法。
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