公开(公告)号：CN101384888A

公开(公告)日：2009-03-11

申请号：CN200780005898.X

申请日：2007-02-15

Applicant: ONERA(法国宇航院)

Inventor： J·普里莫特 ,  S·韦尔盖 ,  N·盖里诺 ,  R·海尔达 ,  M·托维

IPC: G01J9/02 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01J9/02 ,  G01J2009/0226

Abstract: 本发明与波前分析方法有关，该方法涉及采用频差的多侧干涉测量法。根据本发明，在待分析的光束的路径上放置具有二维网格的衍射光栅(GR)并且处理至少两种不同颜色的至少两个干涉图，每个干涉图是在一平面(PS)中从两个具有不同衍射级的子光束(R1，R2)获得的。本发明可用于分析和校正错位波前(S)。

公开(公告)号：CN101389938A

公开(公告)日：2009-03-18

申请号：CN200780006664.7

申请日：2007-01-16

Applicant: ONERA(法国宇航院)

Inventor： J·普里莫特 ,  N·盖里诺 ,  S·韦尔盖

IPC: G01J9/02

CPC classification number: G01J9/02

Abstract: 一种分析光束波阵面的方法与系统，其中衍射光栅(GR)安置在垂直于待分析光束且光学共轭于分析平面的平面内。光栅不同的呈现光束相干涉而生成图像，该图像具有与等待分析波阵面的梯度相关的变形。本方法的特征在于，光栅(GR)执行强度函数与相位函数的相乘；强度函数由带六边形表面S网格的二维光栅(GI)实现，六边形表面S网格将待分析束的光透射成多条排列在六边形网格中的呈现光束；相位函数由带六边形表面3S网格的二维实现，六边形表面3S网格在两条相邻次级光束之间引起接近2π/3(模2π)的相移。

公开(公告)号：CN101384888B

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN200780005898.X

申请日：2007-02-15

Applicant: ONERA(法国宇航院)

Inventor： J·普里莫特 ,  S·韦尔盖 ,  N·盖里诺 ,  R·海尔达 ,  M·托维

IPC: G01J9/02 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01J9/02 ,  G01J2009/0226

Abstract: 本发明与波前分析方法有关，该方法涉及采用频差的多侧干涉测量法。根据本发明，在待分析的光束的路径上放置具有二维网格的衍射光栅(GR)并且处理至少两种不同颜色的至少两个干涉图，每个干涉图是在一平面(Ps)中从两个具有不同衍射级的子光束(R1，R2)获得的。本发明可用于分析和校正错位波前(S)。