公开(公告)号：CN105143863A

公开(公告)日：2015-12-09

申请号：CN201380073709.8

申请日：2013-12-18

Applicant: GE传感与检测技术有限公司

Inventor： M.韦斯滕贝克

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/18

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N1/00 ,  G01N23/18 ,  G01N2001/002 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/321 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/624 ,  G01N2223/643 ,  G01N2223/645

Abstract: 用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统包括：测试装置(11)，具有支承(17)、经安装以便在支承(17)上是连续可旋转的转子(18)和设置在转子(18)上的X射线装置(24、25)；包围测试装置(11)的保护壳体(15)；装卸装置(60)，用于在X射线测试期间装卸组件(12)；以及控制/评估单元(14)，配置用于自动控制系统(10)以及通过计算机断层扫描来评估X射线信号。装卸装置(60)配置用于在装卸区(61)与测试区(78)之间周期地往复，并且包括端面元件(64)，在其上，组件(12)能够设置在端面的侧面上。