聚焦离子束杂质鉴定
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111579890B

    公开(公告)日:2022-11-15

    申请号:CN202010100620.8

    申请日:2020-02-18

    Applicant: FEI 公司

    Abstract: 聚焦离子束杂质鉴定。具有带电粒子束(CPB)透镜和离子束柱的双束系统可以在分析模式下运行。在所述分析模式下,来自所述离子束柱的离子束可以由CPB偏转为包含主离子束和一个或多个非主离子束的一个或多个分量束。所述双束系统可以鉴定所述非主离子束的离子种类。

Patent Agency Ranking