公开(公告)号：CN1211811A

公开(公告)日：1999-03-24

申请号：CN96107366.7

申请日：1996-02-15

Applicant: BASF公司

Inventor： D·霍恩 ,  H·凯勒 ,  W·施列普 ,  S·阿卡里

IPC: H01J37/28 ,  G01N19/00 ,  G01L1/25 ,  G11C13/02

CPC classification number: G01Q60/42 ,  G11C13/0014 ,  G11C13/0019

Abstract: 本发明涉及一种利用化学改性探针借助扫描原子力显微镜的化学鉴别成像法,在其中成像是按法向力模式、弹性模式、搭接模式或非接触模式进行的。这种新方法适合于工业用的表面成像。

公开(公告)号：CN1083105C

公开(公告)日：2002-04-17

申请号：CN96107366.7

申请日：1996-02-15

Applicant: BASF公司

Inventor： D·霍恩 ,  H·凯勒 ,  W·施列普 ,  S·阿卡里

IPC: G01N13/16 ,  G01B7/34

CPC classification number: G01Q60/42 ,  G11C13/0014 ,  G11C13/0019

Abstract: 本发明涉及一种利用化学改性探针借助扫描原子力显微镜的化学鉴别成像法，在其中成像是按法向力模式、弹性模式、搭接模式或非接触模式进行的。