测量控制方法及装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102547797B

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201010617653.6

    申请日:2010-12-22

    Abstract: 本发明提供一种测量控制方法及装置。该测量控制方法包括:获取当前触发源发起的周期测量;若判断获知存在与所述当前触发源发起相同类型的周期测量的在先触发源,则计算所述当前触发源与所述在先触发源的公共测量周期;根据所述公共测量周期执行测量控制;在各所述公共测量周期获取执行所述测量控制的周期测量报告;将所述周期测量报告发送至周期相匹配的所述当前触发源和/或所述在先触发源。本发明提供的测量控制方法及装置对不同触发源所触发的不同周期、类型相同的周期测量进行合并,减少了终端上建立的测量控制数量,并减少了测量为终端带来的负荷。

    测量控制方法及装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102547797A

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201010617653.6

    申请日:2010-12-22

    Abstract: 本发明提供一种测量控制方法及装置。该测量控制方法包括:获取当前触发源发起的周期测量;若判断获知存在与所述当前触发源发起相同类型的周期测量的在先触发源,则计算所述当前触发源与所述在先触发源的公共测量周期;根据所述公共测量周期执行测量控制;在各所述公共测量周期获取执行所述测量控制的周期测量报告;将所述周期测量报告发送至周期相匹配的所述当前触发源和/或所述在先触发源。本发明提供的测量控制方法及装置对不同触发源所触发的不同周期、类型相同的周期测量进行合并,减少了终端上建立的测量控制数量,并减少了测量为终端带来的负荷。

Patent Agency Ranking