公开(公告)号：CN101107081A

公开(公告)日：2008-01-16

申请号：CN200580043578.4

申请日：2005-10-19

Applicant: 麻省理工学院

Inventor： 阿舍·K·斯内恩斯基 ,  安哥拉·M·贝尔谢尔

IPC: B05D3/00 ,  B32B43/00 ,  A61L33/12

CPC classification number: B05D5/005 ,  C07K7/06 ,  C23C18/1608 ,  C23C18/1692 ,  C23C18/1831 ,  C23C18/1834 ,  C23C18/1879 ,  C23C18/1882 ,  G01N33/6845 ,  H01L21/28

Abstract: 本发明检测表明中离散和扩散的缺陷。可以修复损坏性能的离散缺陷。