光模块及上电时间记录方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119966518A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202311488302.3

    申请日:2023-11-09

    Abstract: 本公开提供了一种光模块及上电时间记录方法,光模块包括具有缓存器与非易失存储器的MCU,缓存器用于缓存实时运行参数,并根据记录周期更新实时运行参数;非易失存储器包括存储固件运行参数的第一分区及存储实时运行参数的第二分区,第二分区包括根据实时运行参数的记录周期交替设置存储标志的第一与第二分页,在缓存器的上电时间更新后,MCU执行第一线程:获取缓存的上电时间,将上电时间存储至设置存储标志的分页或未设置存储标志的分页;在接收到参数读取指令时,MCU执行可与第一线程并行执行的第二线程:读取缓存器或第一分区内的运行参数。该光模块对MCU中的存储器进行分区,MCU直接记录上电时间,且不影响MCU的通讯。

    一种光模块
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114285477A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202111553709.0

    申请日:2021-12-17

    Inventor: 陈早品

    Abstract: 本申请提供的光模块包括电路板、MCU、金手指,电路板表面设置有SDA信号线和SCL信号线,在金手指和MUC供电引脚之间设有电源缓启电路,在金手指和SDA接口之间设有SDA缓启电路,在金手指和SCL接口之间设置有SCL缓起电路,电源缓启电路分别与SDA缓启电路和SCL缓启电路电连接;SDA缓起电路和SCL缓起电路在接收到电源缓启电路信号后分别延时导通SDA信号线和SCL信号线,通过SDA缓起电路和SCL缓起电路控制SDA信号线和SCL信号的导通时间,进而延时导通相应的SDA信号线和SCL信号线,实现延时导通I2C信号线,避免I2C信号在光模块上电过程中电平被拉低,进而保证正常通信。

    一种基于实时数据判断光模块稳定性的方法及装置

    公开(公告)号:CN109004977B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201810938064.4

    申请日:2018-08-17

    Inventor: 陈早品 崔涛 赵平

    Abstract: 本申请公开了一种基于实时数据判断光模块稳定性的方法及装置,该方法包括:获取光模块LD实际驱动电流Ir;利用LD驱动电流与温度的关系F(1)计算得到LD理论驱动电流I1;根据LD理论驱动电流I1计算得到LD最大理论驱动电流Imax;判断LD最大理论驱动电流Imax是否大于LD实际驱动电流Ir;如果否,则光模块生成标志位,用于指示告警信息。本申请提供的判断光模块稳定性的方法通过LD与温度的关系对LD动态工作数据进行理论计算,根据LD理论数据与实际数据的比较结果判断LD是否存在风险;无需增加外部设备,由光模块自身监控判定器件是否有劣化风险,在LD出现劣化趋势时,提前告警,保证了系统的正常工作。

    一种基于实时数据判断光模块稳定性的方法及装置

    公开(公告)号:CN109004977A

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201810938064.4

    申请日:2018-08-17

    Inventor: 陈早品 崔涛 赵平

    Abstract: 本申请公开了一种基于实时数据判断光模块稳定性的方法及装置,该方法包括:获取光模块LD实际驱动电流Ir;利用LD驱动电流与温度的关系F(1)计算得到LD理论驱动电流I1;根据LD理论驱动电流I1计算得到LD最大理论驱动电流Imax;判断LD最大理论驱动电流Imax是否大于LD实际驱动电流Ir;如果否,则光模块生成标志位,用于指示告警信息。本申请提供的判断光模块稳定性的方法通过LD与温度的关系对LD动态工作数据进行理论计算,根据LD理论数据与实际数据的比较结果判断LD是否存在风险;无需增加外部设备,由光模块自身监控判定器件是否有劣化风险,在LD出现劣化趋势时,提前告警,保证了系统的正常工作。

    光电复合模块测试装置
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN218679078U

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202222599768.8

    申请日:2022-09-29

    Inventor: 陈早品 杜勇 余韬

    Abstract: 本申请提供的光电复合模块测试装置包括测试板、第一误码仪、第二误码仪、光源、眼图仪、直流电源、电子负载和光电复合缆;当测试板上插入待测光电复合模块时,第一误码仪输出端、光源、光电复合缆、待测光电复合模块、第一误码仪输入端组成第一测试回路,用于进行接收性能测试。当测试板上插上待测光电复合模块时,第二误码仪输出端、待测光电复合模块、光电复合缆、眼图仪输入端组成第二测试回路,用于进行发射性能测试。当测试板上插上待测光电复合模块时,直流电源、待测光电复合模块、光电复合缆、电子负载组成第三测试回路,用于测试待测光电复合模块的供电组件的电阻。本申请设计简单,测试精度较高。

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