公开(公告)号：CN105842192A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201610075328.9

申请日：2016-02-03

Applicant: 阿克塞特里斯股份公司

Inventor： A.维特曼 ,  M-O.朱费里 ,  U.伯格利 ,  K.哈斯勒

IPC: G01N21/39

Abstract: 本发明涉及光学测量系统和气体检测方法。该光学测量系统包括布置在至少一个外壳中的光发射体（4）和至少一个光检测器（8），其中，光发射体（4）以调制跨度Δλ、以平均波长λ0发射已调制主光束（9）。至少一个光机械部件（15）（例如包括光学有效边界面的外壳窗口）被布置在光发射体与光检测器之间，并引起散射光束（11），其与主光束相干扰使得发生自混合和/或引起标准具。因此，光检测器的测量信号包括主信号部分和不期望的干扰信号部分。根据本发明，该至少一个光机械部件被相对于光发射体和/或光检测器布置在优化距离L处，其是主光束的波长λ0和调制跨度Δλ的函数。特殊选择的距离L促进最小化散射光束对已解调信号的影响，这导致传感器灵敏度的增加。

公开(公告)号：CN105842192B

公开(公告)日：2019-12-17

申请号：CN201610075328.9

申请日：2016-02-03

Applicant: 阿克塞特里斯股份公司

Inventor： A.维特曼 ,  M-O.朱费里 ,  U.伯格利 ,  K.哈斯勒

IPC: G01N21/39

Abstract: 本发明涉及光学测量系统和气体检测方法。该光学测量系统包括布置在至少一个外壳中的光发射体（4）和至少一个光检测器（8），其中，光发射体（4）以调制跨度Δλ、以平均波长λ0发射已调制主光束（9）。至少一个光机械部件（15）（例如包括光学有效边界面的外壳窗口）被布置在光发射体与光检测器之间，并引起散射光束（11），其与主光束相干扰使得发生自混合和/或引起标准具。因此，光检测器的测量信号包括主信号部分和不期望的干扰信号部分。根据本发明，该至少一个光机械部件被相对于光发射体和/或光检测器布置在优化距离L处，其是主光束的波长λ0和调制跨度Δλ的函数。特殊选择的距离L促进最小化散射光束对已解调信号的影响，这导致传感器灵敏度的增加。