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公开(公告)号：CN105043540A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510389066.9
申请日：2015-07-05
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
IPC: G01J3/02
Abstract: 一种具有三维姿态可调功能的光栅固定结构，属于光谱仪分光系统技术领域，包括：固定架、挡片、压圈、螺栓、转接板、底座、调节机构；转接板将底座和调整机构连接在一起，固定架用于放置光栅；压片和压圈用于固定光栅和遮挡边缘，底座固定在光路系统中。通过调节螺纹副和弹簧能够实现光栅俯仰、倾斜及相对系统滚转等方位±3°范围内的连续微动调节，消除加工、组装等工序可能引入的误差，使光路达到设计要求；同时，光栅固定架的挡片和压圈能够保证光栅相对位置稳定，避免单点受力带来光栅形变，同时遮挡光栅边缘，减少杂光的引入。
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公开(公告)号：CN105115960B
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201510256595.1
申请日：2015-05-19
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
Abstract: 一种用于ICP光谱仪具有二维可调功能透射式前置光路结构，属于ICP光谱仪分光系统技术领域。包括：前光筒、透镜固定座、密封圈、调节基座、螺套、螺杆、后镜筒、调节环、弹簧、顶销、锁拇、滑动环、透镜基环、透镜压环。通过对前置透镜的二维调节，实时监测探测器接收探测信号值的变化，当探测器的信号达到最大时，即可认为前置透镜的中心孔与入射针孔的中心等高同轴，此时中阶梯光栅光谱仪的光通量实现最大化，保证ICP光谱仪的分析性能最优；同时，在调节环上设计6个空气排放孔，对分光系统充氩气的同时排放光室内部空气，限制空气对紫外波段的吸收，降低紫外波段的检出限，进一步拓宽ICP光谱仪的使用范围。
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公开(公告)号：CN107101723A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710442950.3
申请日：2017-06-13
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
IPC: G01J3/443
CPC classification number: G01J3/443
Abstract: 本发明属于光谱技术领域，特别涉及的一种高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图的分析与校正方法。该方法包括如下步骤：步骤一，获得中阶梯光栅光谱仪的二维谱图；步骤二，对获得的二维谱图进行判读；步骤三，反演棱镜参数的偏差量和/或中阶梯光栅参数的偏差量；步骤四，对中阶梯光栅光谱仪的二维偏差谱图进行校正。本发明方法能够实现二维偏差谱图的定性分析及定量计算，同时能够实现二维偏差谱图的校正工作，对二维偏差谱图进行分析并校正后，能够充分发挥中阶梯光栅光谱仪高光谱分辨率、高灵敏度、低检出限等优势，同时该校正方法仅需对装调工装做微小改变，具有操作简单、易于实现等优点。
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公开(公告)号：CN105115960A
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201510256595.1
申请日：2015-05-19
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
Abstract: 一种用于ICP光谱仪具有二维可调功能透射式前置光路结构，属于ICP光谱仪分光系统技术领域。包括：前光筒、透镜固定座、密封圈、调节基座、螺套、螺杆、后镜筒、调节环、弹簧、顶销、锁拇、滑动环、透镜基环、透镜压环。通过对前置透镜的二维调节，实时监测探测器接收探测信号值的变化，当探测器的信号达到最大时，即可认为前置透镜的中心孔与入射针孔的中心等高同轴，此时中阶梯光栅光谱仪的光通量实现最大化，保证ICP光谱仪的分析性能最优；同时，在调节环上设计6个空气排放孔，对分光系统充氩气的同时排放光室内部空气，限制空气对紫外波段的吸收，降低紫外波段的检出限，进一步拓宽ICP光谱仪的使用范围。
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公开(公告)号：CN104880455A
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：CN201510314333.6
申请日：2015-06-09
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
Abstract: 一种应用于ICP分析仪器等离子体位置调节的二维移动平台，属于ICP分析仪器等离子体调节系统技术领域。包括：水平滑轨、下支撑板、小轴承、光轴、U型块、传动板、连接板、大轴承、联轴器、电机、接触开关、限位环、接触开关基座、上滑动斜块、斜块固定板、中支撑板、斜块固定板连接板、垂直移动板、导轨、导轨滑块、垂直固定板、光电开关感应片、光电开关、垂直滑轨、下滑动斜块、上支撑板。通过二维移动平台的调节，实时的监测采集信号的变化，当信号最强时，即可认为等离子体的观测深度处于最佳位置，视场最好，灵敏度最好，背景干扰最小。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104880455B
公开(公告)日：2017-12-26
申请号：CN201510314333.6
申请日：2015-06-09
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
Abstract: 一种应用于ICP分析仪器等离子体位置调节的二维移动平台，属于ICP分析仪器等离子体调节系统技术领域。包括：水平滑轨、下支撑板、小轴承、光轴、U型块、传动板、连接板、大轴承、联轴器、电机、接触开关、限位环、接触开关基座、上滑动斜块、斜块固定板、中支撑板、斜块固定板连接板、垂直移动板、导轨、导轨滑块、垂直固定板、光电开关感应片、光电开关、垂直滑轨、下滑动斜块、上支撑板。通过二维移动平台的调节，实时的监测采集信号的变化，当信号最强时，即可认为等离子体的观测深度处于最佳位置，视场最好，灵敏度最好，背景干扰最小。
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公开(公告)号：CN106338506A
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201610756647.6
申请日：2016-08-29
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
Abstract: 一种应用于ICP光谱仪的双向观测光路结构，属于光谱仪光学系统技术领域。包括：ICP光源、第一90°折转凹面反射镜、第二90°折转凹面反射镜、观测方式切换用平面反射镜、前置准直反射镜、前置聚焦反射镜、入射狭缝、准直镜、棱镜、中阶梯光栅、聚焦镜、面阵CCD探测器。优点在于，实现了低成本的垂直炬管双向观测方式。
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公开(公告)号：CN106290313A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610592932.9
申请日：2016-07-25
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
IPC: G01N21/73
CPC classification number: G01N21/73
Abstract: 一种应用于ICP光谱的入射光观测位置调节结构，属于光谱仪入射光观测技术领域。包括：包括：光桶、主体、窗片、第一反射镜、第一反射镜基座、调整块、调整杆、弹簧、偏转轴、转动环、第一限位杆、限位开关、铜套、旋转杆、电机、偏心轴、第二限位杆、调整销、旋转曲柄、轴承、第二反射镜基座、第二反射镜。通过调节结构上的电机运动调整第一反射镜和第二反射镜的位置，通过采集系统实时的监测采集信号的变化，使其找到各元素最佳的光线入射路径，以获得最大的灵敏度，降低仪器的检出限及避免背景干扰。
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公开(公告)号：CN108181238A
公开(公告)日：2018-06-19
申请号：CN201810116151.1
申请日：2018-02-06
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
Abstract: 本发明属于光谱仪分光系统领域，涉及一种光谱仪的中阶梯光栅姿态调整方法和校准装置。本发明的调整方法利用中阶梯光栅的衍射理论，结合分光模块光学系统的具体参数，精确计算中阶梯光栅多个衍射级次的光斑成像在中阶梯光栅姿态调整校准装置上的相对位置，并做出相应标记，据此通过中阶梯光栅固定结构调整中阶梯光栅的三维姿态。本发明的校准装置基于中阶梯光栅衍射理论与光学系统具体参数设计而成，计算精确，易于实现，可操作性强，能够精确实现中阶梯光栅在光谱仪中的姿态调整；同时，该中阶梯光栅姿态调整校准装置装适用性强，当光学系统相关光学参数发生变化时，仅需重新计算设计中阶梯光栅各衍射级次的光斑对应位置即可。
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公开(公告)号：CN105043540B
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201510389066.9
申请日：2015-07-05
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
IPC: G01J3/02
Abstract: 一种具有三维姿态可调功能的光栅固定结构，属于光谱仪分光系统技术领域，包括：固定架、挡片、压圈、螺栓、转接板、底座、调节机构；转接板将底座和调整机构连接在一起，固定架用于放置光栅；压片和压圈用于固定光栅和遮挡边缘，底座固定在光路系统中。通过调节螺纹副和弹簧能够实现光栅俯仰、倾斜及相对系统滚转等方位±3°范围内的连续微动调节，消除加工、组装等工序可能引入的误差，使光路达到设计要求；同时，光栅固定架的挡片和压圈能够保证光栅相对位置稳定，避免单点受力带来光栅形变，同时遮挡光栅边缘，减少杂光的引入。
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