一种X射线衍射成像双晶体谱仪

    公开(公告)号:CN112259262A

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN202011224771.0

    申请日:2020-11-05

    Abstract: 本发明涉及一种X射线衍射成像双晶体谱仪,属于光谱探测器件领域。针对存在像差的传统球面弯晶谱仪,提出了一种基于双球面弯晶结构的无像散X射线衍射成像谱仪,本发明中采用两个球面弯曲晶体,其物理关系满足两球面弯晶半径的负比值正比于其对应布拉格角余弦值和2倍布拉格角正切值的乘积,所涉及X射线晶体谱仪能够解决单个球面晶体在子午面和弧矢面射线聚焦焦点不一致造成的成像像差问题。本发明提出的双晶体X射线衍射成像谱仪能够使得X射线经两晶体衍射后的射线汇聚于罗兰圆位置上同一点,可以有效提升晶体谱仪成像聚焦效果及诊断精度。

    一种基于深度电极的光子计数探测器及其堆积校正方法

    公开(公告)号:CN114838820A

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202210259970.8

    申请日:2022-03-16

    Abstract: 本发明涉及一种基于深度电极的光子计数探测器及其堆积校正方法,属于半导体技术领域。本发明包括对于每一个独立的能量通道的每个脉冲幅度信号增加一个独立的校正因子项,该校正因子项为两个或多个可分离参数化函数的乘积;其中第一个参数化函数取决于所有能量通道或目标能量通道附近一定窗口范围内能量通道上相应探测信号的加权和,该参数化函数包括两个关键参数项;其中第二个参数化函数取决于单个目标能量通道或多个能道范围内的探测信号总和,堆积校正所用参数化函数包括至少一个关键参数项。采用本发明的芯片系统,通过认为目标能量通道信号与校正因子的可分离性并忽略互相关函数影响,校正算法的参数数量和堆积校正算法的复杂性将降低。

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