公开(公告)号：CN110849943B

公开(公告)日：2022-04-22

申请号：CN201911179052.9

申请日：2019-11-26

Applicant: 重庆大学

Inventor： 杨丽君 ,  沈钟熠 ,  赖逸君 ,  汤瀚威 ,  成立 ,  赵学童

IPC: G01N27/22

Abstract: 本发明涉及一种非接触式绝缘介质响应全自动测试方法，属于频域介质响应测试技术领域，包括以下步骤：S1：预测量：针对同种介电材料，测量样品及不同厚度空气隙的联合响应并得到频率响应特性曲线；S2：极限拟合：利用预测量得到的频率响应特性数据，以空气隙厚度为自变量，通过曲面拟合得到在同一频率点下，空气隙厚度为零时的频率响应特性；S3：对于后续绝缘材料样品，采用单个空气隙厚度进行常规测量，通过步骤S1,S2得到的频域介质响应曲线，得到消除空气隙影响后的样品材料介电特性。

公开(公告)号：CN110849943A

公开(公告)日：2020-02-28

申请号：CN201911179052.9

申请日：2019-11-26

Applicant: 重庆大学

Inventor： 杨丽君 ,  沈钟熠 ,  赖逸君 ,  汤瀚威 ,  成立 ,  赵学童

IPC: G01N27/22

Abstract: 本发明涉及一种非接触式绝缘介质响应全自动测试方法，属于频域介质响应测试技术领域，包括以下步骤：S1：预测量：针对同种介电材料，测量样品及不同厚度空气隙的联合响应并得到频率响应特性曲线；S2：极限拟合：利用预测量得到的频率响应特性数据，以空气隙厚度为自变量，通过曲面拟合得到在同一频率点下，空气隙厚度为零时的频率响应特性；S3：对于后续绝缘材料样品，采用单个空气隙厚度进行常规测量，通过步骤S1,S2得到的频域介质响应曲线，得到消除空气隙影响后的样品材料介电特性。