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公开(公告)号：CN104267423B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201410544099.1
申请日：2014-10-15
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明提供了一种X射线偏振度的检测系统及检测方法；该检测系统借助晶体衍射X射线产生X射线偏振光谱的原理，在衍射台上晶体薄片采用的晶体材质针对于被检测的X射线波长满足布拉格衍射条件的情况下，从光线入射通道入射的X射线辐射在衍射台两个衍射工作面的晶体薄片上时，总能够得到X射线在两个相互垂直的不同方向上的偏振光谱，结构巧妙、易于生产，解决了现有技术中X射线偏振度检测产品缺失的问题；该检测方法直接借助检测系统中两台X射线探测器探测两个方向的X射线偏振光谱强度来进行X射线偏振度的检测，操作简单，适用于任意场合中对X射线的偏振度进行检测，应用范围广泛。
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公开(公告)号：CN104267423A
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201410544099.1
申请日：2014-10-15
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明提供了一种X射线偏振度的检测系统及检测方法；该检测系统借助晶体衍射X射线产生X射线偏振光谱的原理，在衍射台上晶体薄片采用的晶体材质针对于被检测的X射线波长满足布拉格衍射条件的情况下，从光线入射通道入射的X射线辐射在衍射台两个衍射工作面的晶体薄片上时，总能够得到X射线在两个相互垂直的不同方向上的偏振光谱，结构巧妙、易于生产，解决了现有技术中X射线偏振度检测产品缺失的问题；该检测方法直接借助检测系统中两台X射线探测器探测两个方向的X射线偏振光谱强度来进行X射线偏振度的检测，操作简单，适用于任意场合中对X射线的偏振度进行检测，应用范围广泛。
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公开(公告)号：CN204086554U
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201420595427.6
申请日：2014-10-15
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本实用新型提供了一种X射线偏振度的检测系统，该检测系统借助晶体衍射X射线产生X射线偏振光谱的原理，在衍射台上晶体薄片采用的晶体材质针对于被检测的X射线波长满足布拉格衍射条件的情况下，其光线入射通道与两个光线出射通道的布局以及衍射台在壳体腔室空间中的位置、角度布置，使得从光线入射通道入射的X射线辐射在衍射台两个衍射工作面的晶体薄片上时，总能够得到X射线在两个相互垂直的不同方向上的偏振光谱，结构巧妙、易于生产，解决了现有技术中X射线偏振度检测产品缺失的问题；同时，该使用检测系统进行X射线偏振度检测的操作简单，适用于任意场合中对X射线的偏振度进行检测，应用范围广泛。
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