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发明公开
用来检测材料与微波元件的接近度的传感器组装件无效

公开(公告)号：CN102841383A

公开(公告)日：2012-12-26

申请号：CN201210202418.1

申请日：2012-06-19

Applicant: 通用电气公司

Inventor： B.L.谢克曼 , S.A.克拉克 , S.L.卢什

IPC: G01V3/08

CPC classification number: G01S13/04 , G01S13/08

Abstract: 本发明涉及用来检测材料与微波元件的接近度的传感器组装件。公开一种用来检测材料与微波元件的接近度的传感器组装件。一个示例传感器组装件(100、200)包括配置成产生至少一个微波信号的信号发生器(104、204)、连接到信号发生器的耦合器(106、206)、耦接到耦合器的微波元件(108、208)，以及连接到耦合器的处理模块(112、212)。微波元件配置成作为所述至少一个微波信号的函数来产生电磁场。微波元件结构构造成在材料(102、202)与电磁场相互作用时，将加载信号反映到所述耦合器。处理模块配置成利用参考信号来处理加载信号，以产生表示材料与微波元件的接近度的数据信号。数据信号限定亚微波频率。

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