公开(公告)号：CN1542403A

公开(公告)日：2004-11-03

申请号：CN200410031261.6

申请日：2004-03-26

Applicant: 通用电气公司

Inventor： R·科库 ,  G·W·布洛科斯比 ,  P·H·屠

IPC: G01B21/00

CPC classification number: G01B11/25 ,  G06T7/521

Abstract: 提供一种用于复杂零件(15)非接触测量的系统和方法，该方法包括利用至少一个成像装置(11)获取包括施加到复杂零件上的激光线的复杂零件的图像，确定是代表复杂零件的至少一部分的并包含与复杂零件表面的多个尺寸有关的信息的复杂零件的感兴趣范围，从感兴趣范围提取对应于激光线的信息以减少计算以及进一步从对应于激光线的信息提取多个特征点，多个特征点代表表面的多个尺寸。多个特征点用于重构复杂零件表面的三维(3D)表示。

公开(公告)号：CN100442012C

公开(公告)日：2008-12-10

申请号：CN200410031261.6

申请日：2004-03-26

Applicant: 通用电气公司

Inventor： R·科库 ,  G·W·布洛科斯比 ,  P·H·屠

IPC: G01B21/00

CPC classification number: G01B11/25 ,  G06T7/521

Abstract: 提供一种用于复杂零件(15)非接触测量的系统和方法，该方法包括利用至少一个成像装置(11)获取包括施加到复杂零件上的激光线的复杂零件的图像，确定是代表复杂零件的至少一部分的并包含与复杂零件表面的多个尺寸有关的信息的复杂零件的感兴趣范围，从感兴趣范围提取对应于激光线的信息以减少计算以及进一步从对应于激光线的信息提取多个特征点，多个特征点代表表面的多个尺寸。多个特征点用于重构复杂零件表面的三维(3D)表示。